対応試験の紹介
CTとはComputed Tomographyの省略で、コンピュータ断面撮影法と呼ばれており物体を走査(scan)することからX線CTスキャンと呼ばれています。
特徴としては、物体をさまざまな方向からX線で撮影し、再構成処理を行うことにより、物体の内部構造を得ることができます。異なる材料で構成された物質の場合だけでなく、同じ物質であっても密度の違いよりその差を計測することができます。
材料内部の破壊や劣化を非破壊で評価することが可能な分析装置です。
また、同一試料の内部変化を継続的に観察していく場合にも極めて有用です。
試験所所在地
- 大阪府堺市
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