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  • 振動試験_衝撃試験

    振動試験 衝撃試験  / 2022年10月04日 /  電子・半導体 試験・分析・測定

     

    振動試験/衝撃試験

     

      半導体デバイス及び電子デバイスが輸送や使用時に受ける振動や衝撃への耐性を      

      評価します。

     

    解析方法

     

     専用の試験装置を使用して、規定の条件にて製品へストレスを印加します。

      ■振動試験

    試験条件例 

     周波数         :100~2000Hz

     ピーク加速度:20G 方向X/Y/Z

     各方向         :9min  

    参考規格例     JIS、JEITA
    対応範囲

     最大荷重      :500Kgf

     最大加速度   :100G

     周波数範囲   :5~4.5KHz

     最大振幅      :20mmP-P

     ■衝撃試験

    試験条件例 

     ピーク加速度:500G

     振幅            :1ms(半正弦波) 方向X1,2/Y1,2/Z1,2 各方向3回

    参考規格例     JIS、JEITA
    対応範囲

     最大加速度   :2000G

     波形            :半正弦波

     

    試験装置

     

    振動試験装置・バイブローチャンバ

     

    治具

     

     

    衝撃試験

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