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振動試験/衝撃試験
半導体デバイス及び電子デバイスが輸送や使用時に受ける振動や衝撃への耐性を
評価します。
解析方法
専用の試験装置を使用して、規定の条件にて製品へストレスを印加します。
■振動試験
試験条件例 周波数 ：100～2000Hz
ピーク加速度：20G 方向X／Y／Z
各方向 ：9min
参考規格例 JIS、JEITA 対応範囲 最大荷重 ：500Kgf
最大加速度 ：100G
周波数範囲 ：5～4.5KHz
最大振幅 ：20mmP-P
■衝撃試験
試験条件例 ピーク加速度：500G
振幅 ：1ms(半正弦波) 方向X1,2／Y1,2／Z1,2 各方向3回
参考規格例 JIS、JEITA 対応範囲 最大加速度 ：2000G
波形 ：半正弦波
試験装置
振動試験装置・バイブローチャンバ
治具
衝撃試験
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