製品・技術
通電試験
半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、電気的及び熱的ストレスを受けた場合の耐性を評価します。
高温連続通電試験
＊試験サンプルの大きさ、形状によって制限を受けます。
| 目的 |
長時間、高温下での動作状態に対する耐性を評価します。 |
| 試験条件例 | 電圧／電流：規定の動作条件、Ta：125℃(Tj=175℃) |
| 参考規格例 | JEITA |
| 対応範囲 |
個別半導体、モジュール、レギュレータIC、その他IC |
装置外観
高温連続通電試験 通電基板（REG内製）
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