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定加速度試験
半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。
方法
半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。
PCT・HAST槽
試験条件例 加速度:20000G 方向X/Y/Z、各方向:1min 参考規格例 IEC 60068-2-7
JIS C60068-2-7
ED-4701/400 試験方法405対応範囲 500~30000G サンプル専用冶具が必要
遠心定加速度試験機 (型番:CA-833N Ⅱ)
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飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験(プレッシャークッカーテスト)
飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験
半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、高温高湿下に曝された場合の 耐性を加速評価します。
方法
プレッシャークッカー槽と呼ばれる試験槽を使用して、規定の温度/湿度下で 規定の時間投入します。
PCT・HAST槽
試験条件例 温度:130℃85%、時間:100h、中間取出し時間:25h/50h 参考規格例 JESD22-A102D 対応範囲 温度:105~143℃、湿度:75~100%、
圧力:0.02~0.2MPaまで可能
常設温度(2020年11月現在)
・121℃/100%
・130℃/85%*試験サンプルの大きさ、形状によっては制限を受けます。
{ 装置内容積:355W×355H×426D mm }装置外観(PCT・HAST槽)
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通電試験
半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、電気的及び熱的ストレスを受けた場合の耐性を評価します。
高温連続通電試験
*試験サンプルの大きさ、形状によって制限を受けます。
目的 長時間、高温下での動作状態に対する耐性を評価します。
試験条件例 電圧/電流:規定の動作条件、Ta:125℃(Tj=175℃) 参考規格例 JEITA 対応範囲 個別半導体、モジュール、レギュレータIC、その他IC
装置外観
高温連続通電試験 通電基板(REG内製)
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