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  • 定加速度試験

    定加速度試験 遠心定加速度試験機  / 2023年01月16日 /  電子・半導体 試験・分析・測定

    定加速度試験

    半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。

    方法

     

    半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。

     

     PCT・HAST槽
    試験条件例    加速度:20000G 方向X/Y/Z、各方向:1min
    参考規格例 IEC 60068-2-7
    JIS C60068-2-7
    ED-4701/400 試験方法405
    対応範囲

    500~30000G サンプル専用冶具が必要

     

     遠心定加速度試験機 (型番:CA-833N Ⅱ)

     

  • 飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験(プレッシャークッカーテスト)

    飽和蒸気加圧試験 不飽和蒸気加圧試験 プレッシャークッカーテスト  / 2023年01月11日 /  電子・半導体 試験・分析・測定

    飽和蒸気加圧試験/不飽和蒸気加圧試験

    半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、高温高湿下に曝された場合の     耐性を加速評価します。

    方法

     

    プレッシャークッカー槽と呼ばれる試験槽を使用して、規定の温度/湿度下で    規定の時間投入します。

     

     PCT・HAST槽
    試験条件例    温度:130℃85%、時間:100h、中間取出し時間:25h/50h
    参考規格例 JESD22-A102D
    対応範囲

    温度:105~143℃、湿度:75~100%、

    圧力:0.02~0.2MPaまで可能

     常設温度(2020年11月現在) 

    ・121℃/100%
    ・130℃/85%

    *試験サンプルの大きさ、形状によっては制限を受けます。
    { 装置内容積:355W×355H×426D mm }

     装置外観(PCT・HAST槽)

     

     

  • 通電試験

    通電試験 高温連続通電試験  / 2023年01月10日 /  電子・半導体 試験・分析・測定

    通電試験

    半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、電気的及び熱的ストレスを受けた場合の耐性を評価します。

    高温連続通電試験

     

     

    *試験サンプルの大きさ、形状によって制限を受けます。
    目的 

    長時間、高温下での動作状態に対する耐性を評価します。

    試験条件例    電圧/電流:規定の動作条件、Ta:125℃(Tj=175℃)
    参考規格例 JEITA
    対応範囲

    個別半導体、モジュール、レギュレータIC、その他IC

     装置外観

         高温連続通電試験             通電基板(REG内製)

     

     

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