製品・技術
飽和蒸気加圧試験／不飽和蒸気加圧試験
半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、高温高湿下に曝された場合の 耐性を加速評価します。
方法
プレッシャークッカー槽と呼ばれる試験槽を使用して、規定の温度/湿度下で 規定の時間投入します。
PCT・HAST槽
| 試験条件例 | 温度：130℃85%、時間：100h、中間取出し時間：25h／50h |
| 参考規格例 | JESD22-A102D |
| 対応範囲 |
温度：105～143℃、湿度：75～100％、 圧力：0.02～0.2MPaまで可能 常設温度(2020年11月現在) ・121℃／100％ |
＊試験サンプルの大きさ、形状によっては制限を受けます。
{ 装置内容積：355W×355H×426D mm }
装置外観(PCT・HAST槽)
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