製品・技術
定加速度試験
半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。
方法
半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。
PCT・HAST槽
| 試験条件例 | 加速度：20000G 方向X／Y／Z、各方向：1min |
| 参考規格例 | IEC 60068-2-7 JIS C60068-2-7 ED-4701／400 試験方法405 |
| 対応範囲 |
500～30000G サンプル専用冶具が必要 |
遠心定加速度試験機 (型番：CA-833N Ⅱ)
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