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IC開封

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IC 開封 エポキシ系  / 2023年05月18日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術

 

IC開封

 

   ICの不良解析をする場合にはパッケージの樹脂を取り除いチップ・ワイヤーが観察

  できる状態にする必要があります。薬液と開封装置を使用し、目的に合わせ

  最適条件にて、チップ・ワイヤーへのダメージを最小限にした樹脂開封を

  行なう事ができます。解析動作可能な状態でチップの部分のみの開封も行います。

 

原理・解析方法

   

  パッケージの樹脂を取り除くIC開封では、エポキシ系のレジンは硝酸等の薬液

  を使用して除去を行います。近年増えているCuワイヤを使用したパッケージの

  場合は、薬液でワイヤへのダメージは入りやすい事から、レーザー開封装置を

  使用し、ワイヤへのダメージが少ない最適条件で開封を行います。 

 

解析事例

 

 

  

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