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SAT 超音波 反射強度  / 2023年05月19日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術

 

SAT

 

   試料内部の情報(クラック,空隙などの有無とロケーション)を超音波の反射波を

   用い非破壊で観察します。

 

解析方法

   

   音響レンズを備えた超音波センサに繰り返しパルス電圧を印加し、

   発生させた超音波を音響レンズより観察したい試料観察面に照射します。
   超音波が試料表面や内部欠陥で反射した後、再びセンサに戻ります。

   反射波(エコー)の強度を測定し、特定位置に対応する画像上の明るさを

   反射強度に応じ表示された画像から、試料内部の微小な亀裂や

   剥離(隙間)を検出いたします。

 

解析事例

 

 

  

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