製品・技術
無機主成分分析(非破壊)
無機主成分分析(非破壊)
X線
/ 2023年05月24日 /
電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術
無機主成分分析(非破壊)
異物や材料の主成分(元素)を特定します。
解析方法・解析事例
試料を採取し、前処理した後、試料への連続X線照射で発生した蛍光X線を
測定することで、元素を特定します。
【このページの関連ページ】
無機主成分分析(非破壊)
このページに関するお問い合わせ
【前のページ】
回路修正
HOME
HOME
ニュース
製品・技術
会社概要
お問い合わせ
参加ポータル
新着ページ
無機主成分分析(非破壊)
(2023年05月24日)
回路修正
(2023年05月22日)
SAT
(2023年05月19日)
IC開封
(2023年05月18日)
SEM観察
(2023年05月17日)
月別ページ
すべてのページ一覧
2023年05月(13)
2023年04月(2)
2023年02月(2)
2023年01月(3)
2022年11月(2)
ページカテゴリ一覧
すべてのページカテゴリ一覧
ショート(2)
リーク(2)
2次電子像(1)
CDM法(1)
EDS成分分析(1)
EM評価(1)
EOFM(1)
EOP(1)
HBM法(1)
HCI評価(1)