製造業関連情報総合ポータルサイト@engineer
WEB営業力強化支援サービスのご案内
ルネサスエンジニアリングサービス株式会社
製品・技術

X線解析

  • このエントリーをはてなブックマークに追加
  • @engineer記事クリップに登録
X線解析 ボンディングワイヤ断線 ループ異常 インナーリード 非破壊観察  / 2023年05月31日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術

 

X線解析

 

 ボンディングワイヤの断線及びループ異常,インナーリードの変形等部の非破壊観察

 により内部構造の観察します。

 

解析方法・解析事例

  

 X線は材質・厚みにより透過度が異なるため(原子量が小さいと透過率が高い)

 透過X 線の強度の差が像として得られます。

    

 

  • HOME
  • ニュース
  • 製品・技術
  • 会社概要
  • お問い合わせ
参加ポータル
試験・分析.com