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  • パワーデバイス・パワーモジュールの電気的特性検査 評価

    パワーデバイス パワーモジュール 電気的特性 ダイオード MOSFET IGBT パワーモジュール DC特性 静特性 AC特性 動特性  / 2023年06月15日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術

     

    パワーデバイス・パワーモジュールの電気的特性検査 評価

     

     ダイオード、MOSFET、IGBTなどの各種パワーデバイス、及び

     パワーモジュールのDC特性 (静特性)、AC特性(動特性)検査・評価

     サービスを提供します。

     

    試験方法

      

     ・高電圧、大電流の評価環境に対応。
     ・測定温度-60~250℃までの評価環境に対応。
     ・パワーデバイス評価ノウハウを持ったエンジニアが対応

     

    検査・評価装置(※一例)

      

  • パワーデバイス・パワーモジュールの電気的特性検査 評価

    パワーデバイス パワーモジュール 電気的特性  / 2022年11月18日 /  電子・半導体 試験・分析・測定

    パワーデバイス・パワーモジュールの電気的特性検査 評価

     

     ダイオード、MOSFET、IGBTなどの各種パワーデバイス、及びパワーモジュールの

     DC特性 (静特性)、AC特性(動特性)検査・評価サービスを提供します。

         ・高電圧、大電流の評価環境に対応。

         ・測定温度-60~250℃までの評価環境に対応。

       ・パワーデバイス評価ノウハウを持ったエンジニアが対応

     

    検査・評価

     

     

    検査/評価装置

     

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