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    定加速度試験 遠心定加速度試験機  / 2023年01月16日 /  電子・半導体 試験・分析・測定

    定加速度試験

    半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。

    方法

     

    半導体デバイス及び電子デバイスが、移動体、特に飛行体の、回転体または発射体で生じる定常的な加速度の耐性を評価します。

     

    　PCT・HAST槽
    試験条件例    加速度：20000G 方向X／Y／Z、各方向：1min
    参考規格例 IEC 60068-2-7
    JIS C60068-2-7
    ED-4701／400 試験方法405
    対応範囲

    500～30000G サンプル専用冶具が必要

     

     遠心定加速度試験機 (型番：CA-833N Ⅱ)

     

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