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    通電試験 高温連続通電試験  / 2023年01月10日 /  電子・半導体 試験・分析・測定

    通電試験

    半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、電気的及び熱的ストレスを受けた場合の耐性を評価します。

    高温連続通電試験

     

     

    ＊試験サンプルの大きさ、形状によって制限を受けます。
    目的 

    長時間、高温下での動作状態に対する耐性を評価します。
    試験条件例    電圧／電流：規定の動作条件、Ta：125℃(Tj=175℃)
    参考規格例 JEITA
    対応範囲

    個別半導体、モジュール、レギュレータIC、その他IC

     装置外観

    　　　　 高温連続通電試験　　　　　　　　　　　 　通電基板（REG内製）

     

     

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