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飽和蒸気加圧試験不飽和蒸気加圧試験プレッシャークッカーテスト / 2023年01月11日 / 電子・半導体試験・分析・測定

飽和蒸気加圧試験／不飽和蒸気加圧試験

半導体デバイス及び電子デバイスが長時間、高温高湿下に曝された場合の耐性を加速評価します。

プレッシャークッカー槽と呼ばれる試験槽を使用して、規定の温度/湿度下で規定の時間投入します。

試験条件例

温度：130℃85%、時間：100h、中間取出し時間：25h／50h

参考規格例

JESD22-A102D

対応範囲

温度：105～143℃、湿度：75～100％、

圧力：0.02～0.2MPaまで可能

常設温度(2020年11月現在)

・121℃／100％
・130℃／85％

＊試験サンプルの大きさ、形状によっては制限を受けます。
{ 装置内容積：355W×355H×426D mm }

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