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    発光解析 ショート リーク 高抵抗等  / 2023年05月12日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術

     

    発光解析

    　

    　　半導体デバイス動作にともない発生する微弱な発光を検出することで、ICチップ

    　　内部のショート、リーク、高抵抗等の不良箇所の絞り込を行います。

    　　最新の浜松ホトニクス製　PHEMOS-X解析装置を導入いたしました。

    　　詳しくはお問合せ下さい。

     

    解析方法

     

    　電源ーグランド間に流れる異常電流から不良に関わるMOSから発生するホットエレクトロンを捉え、不良位置を特定する解析手法です。

     

    解析事例

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