4/21 【Live(リアルタイム)配信】 高機能化、高性能化のための表面処理法の基礎と表面分析法

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士（工学） 奥村 治樹 氏

49,500円 ( E-Mail案内登録価格 46,970円 )※資料付

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1名申込みの場合：受講料( 定価 35,200円／E-Mail案内登録価格 33,440円 )
35,200円 ( E-Mail案内登録価格 33,440円 )　
　定価：本体32,000円＋税3,200円
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※１名様でLive配信/WEBセミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
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※他の割引は併用できません。

【受講に際しての注意事項】
大変申し訳ございませんが、講師とご同業

（経営・人事研修・技術コンサルタント、またはこれに類する事業を手掛けている等）

の方のご参加はお断り申し上げます。

【セミナー受講特典コンサルティング】　

※ コンサルティング料は受講料とは別になります。
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依頼条件を満たす限り原則として実施内容、方法に制限はありません。

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＜依頼条件＞
・初回１回のみ
・セミナー実施日より３カ月以内に依頼が成立
・費用：内容によらず定額の限定特別料金

＜得られる知識・技術＞

・表面処理の基礎
・表面処理のポイント
・表面処理のための分析の基礎と活用法
・目的別分析手法の使い分け
・トラブル解析

＜対象＞

・研究開発部門、分析部門、製造部門、品質保証部門など技術部門全般
・若手から中堅を中心とした担当者
・部署マネジメント、部下を教育する管理者、マネージャー

＜講演内容＞

 １．表面に支配される現代社会

２．表面とは
　2.1 表面(薄膜)とは？
　2.2 表面の要素
　2.3 表面における現象
　2.4 界面形成因子と評価法
　2.5 表面を支配するには
　2.6 表面処理の背景
　2.7 製品改良

３．表面処理法の分類
　3.1 表面処理の分類
　3.2 金属のための表面処理
　3.3 金属表面処理の特徴
　3.4 洗浄
　3.5 洗浄処理のポイントと注意点
　3.6 硬化処理
　3.7 化学研磨と電解研磨
　3.8 化成処理
　3.9 エッチング(ドライ)

４．主な表面処理法の基本と特徴
　 4.1 UV・オゾン洗浄
　 4.2 めっきの種類
　 4.3 めっきの特徴
　 4.4 代表的めっき工程
　 4.5 めっき処理のポイントと注意点
　 4.6 プラズマ処理
　 4.7 PVD(物理蒸着:Physical Vapor Deposition)
　 4.8 CVD(化学蒸着:Chemical Vapor Deposition)
　 4.9 PVD v.s. CVD
　4.10 溶射
　4.11 コロナ処理
　4.12 プラズマ処理で発現する機能
　4.13 イオン注入
　4.14 グラフト重合

５．シランカップリング反応
　5.1 代表的な処理方法
　5.2 処理条件
　5.3 条件と構造の多様性の例

６．接着のための表面処理
　6.1 機械的処理
　6.2 化学的処理
　6.3 UV処理と剥離強度
　6.4 シランカップリング処理と剥離強度
　6.5 注意点・ポイント

７．サンプルの取り扱い
　7.1 サンプリング
　7.2 裏表の表示
　7.3 汚染の例

８．代表的表面分析手法

９．表面分析の分類 
　9.1 表面分析に用いる主な手法と選び方 
　9.2 表面・微小部の代表的分析手法
　9.3 手法の選択

１０．X線光電子分光法(XPS、ESCA)
　10.1 XPSの原理
　10.2 ワイドスキャン(サーベイスキャン)
　10.3 ナロースキャン(代表的な元素)
　10.4 元素同定
　10.5 化学状態の同定
　10.6 角度変化測定による深さ方向分析
　10.7 ハイブリッド分析
　10.8 チャージアップ
　10.9 イオンエッチングダメージ

１１．オージェ電子分光法(AES)
　11.1 微小領域の元素分析手法
　11.2 AESの原理
　11.3 AES測定例
　11.4 XPSとAESの手法の比較

１２．X線マイクロアナライザ(EPMA)
　12.1 EPMAの原理
　12.2 元素分布分析

１３．フーリエ変換赤外分光法(FT-IR)
　13.1 赤外分光法(IR)の原理
　13.2 FT-IRの長所・短所
　13.3 測定法
　13.4 主な吸収帯
　13.5 全反射法(ATR法)
　13.6 ATR測定における注意点
　13.7 In-situ FT-IR

１４．飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
　14.1 SIMSの概念
　14.2 D-SIMSに用いられる質量分析法
　14.3 TOF-MSの原理
　14.4 TOF-SIMSによる化学構造解析

１５．グロー放電分析(GD)

１６．SEM、TEM
　16.1 SEM像
　16.2 表面形状と組成
　16.3 SEM-EDS組成分析

１７．走査型プローブ顕微鏡(SPM)

１８．SPMとは

１９．主な走査型プローブ顕微鏡

２０．形態観察におけるAFMの位置づけ

２１．観察例

２２．位相イメージング

２３．解析の実例
　 23.1 評価要素と手法(洗浄)
　 23.2 評価要素と手法(改質)
　 23.3 評価要素と手法(成膜)
　 23.4 被膜欠陥
　 23.5 SEM観察例
　 23.6 断面TEM写真
　 23.7 シミ分析
　 23.8 基板上の付着物
　 23.9 ハジキの分析
　23.10 マイクロ抽出法による分離分析
　23.11 絶縁体上の異物(ＡＥＳ)
　23.12 プラズマ処理(ＸＰＳ)
　23.13 プラズマ処理(FT-IR)
　23.14 プラズマ処理PI(SPM)
　23.15 オゾン処理ゴム(FT-IR)
　23.16 脱ガス分析(TEOS)
　23.17 化学状態マッピング(AES)

２４．UV照射による化学構造の評価
　24.1 表面構造変化の解析(XPS)
　　24.1.1 処理条件
　　24.1.2 光照射による変化
　24.2 気相化学修飾法
　　24.2.1 代表的な反応スキーム
　　24.2.2 気相化学修飾法による官能基定量結果
　24.3 化学修飾法を用いたTOFイメージング
　　24.3.1 処理条件
　　24.3.2 UV照射前後におけるスペクトル

２５．ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
　25.1 試料と実験条件
　25.2 アルカリ処理前後のFT-IR、XPSスペクトル
　25.3 顕微ATRスペクトル
　25.4 断面ラインプロファイル
　25.5 深さ方向ラインスキャンFT-IRスペクトル
　25.6 各処理時間における深さ方向構造変化分布

２６．まとめと質疑
 

【ZoomによるLive配信】

・本セミナーはビデオ会議ツール「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。

・お申込み受理のご連絡メールに接続テスト用のURL、ミーティングＩＤ 、パスコードが記されております。

　「Zoom」をインストールができるか、接続できるか等をご確認下さい。

・セミナー開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。

・開催日時にリアルタイムで講師へのご質問も可能です。

・タブレットやスマートフォンでも視聴できます。

 ＜配布資料＞

━━━━━━━━━━━━◆キャンペーンについて◆━━━━━━━━━━━━━━━━━━

≪お申し込み方法≫

　お申し込みページ一番上の連絡事項欄に「2名同時申込み」希望の旨と、

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　住所等が申込者様と同一の場合は、省略いただいて結構です。

・2名様ともS&T会員登録をしていただいた場合に限ります。詳細は別途ご連絡いたします。

・同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。

・3名様以上でお申込みの場合、3人目以降は定価の半額で受講できます。

・受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。

・請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。ご希望の場合はお知らせください。

・他の割引は併用できません。

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○お申し込み後、サイエンス＆テクノロジーより確認のご連絡を差し上げます。

○受講料は銀行振込、または当日会場にて現金でお支払いください。

○お申込み後、ご都合が悪くなった場合は代理の方のご出席も可能です。

やむなくキャンセルされる場合は、下記のキャンセル規定で承ります。

◇キャンセル規定◇

開催日から逆算（営業日：土日・祝祭日等を除く）いたしまして、

・開催7日前以前でのキャンセル： キャンセル料はいただきません

・開催3～6日前でのキャンセル： 受講料の70％

・開催当日～2日前でのキャンセル・欠席： 受講料の100％

※受講料入金後での7日前以前のキャンセルについて、返金の手続きが発生した場合の振込手数料はお客様負担とさせていただきます。

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