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対応試験の紹介

X線光電子分光分析(XPS-ESCA)

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X線光電子分光法(XPS)はESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)とも呼ばれており、試料にAl-KαやMg-Kαなどの特性X線を照射し、試料表面の元素から放出される光電子の運動エネルギーとその強度を計測する分析法です。
 分析対象は固体試料で、試料表面から数ナノメートル程度の深さまでの組成分析や化学状態分析が行なえます。また、Arなどのイオンを照射して試料表面をスパッタリングすることで、深さ分析を行なうことができます。広く金属や無機・有機材料へ適応できます。

対象材料・部品・装置

  • 鉄鋼・非鉄金属
  • 樹脂
  • 石材・セメント・コンクリート

対応保有設備

AXIS-Nova(島津)

ESCA-3400(島津)

試験所所在地

  • 京都府京都市
  • 東京都大田区
  • 神奈川県秦野市
参加ポータル
試験・分析.com