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  • 検査機校正用微小異物サンプル

    FIB加工 微小異物 校正サンプル  / 2018年12月11日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術

            検査機校正用微小異物サンプル            

     

     異物欠点検査機を構成するための微小ワークでお困りではないですか?

     近年、リチウムイオン電池などにおける異物検査は製品安全にもかかわることから、その検査装置に求められる性能保証も厳しくなっています、当社の微細加工技術で、μmオーダーの異物サンプルも、校正用の標準サンプルも、ご所望の形状で製作します。また、標準スケールを用いたSEM観察で寸法精度も保証します。

     

    【X線検査装置向け微小な異物検査のテストピース】

     リチウムイオン電池は内部短絡の発生を抑制するため、電極やセパレータに金属異物の混入の検査をします。当社ではその異物検査向けの微小な校正用異物サンプルを製造しています。

    φ数十µmオーダーのピックアップ可能な異物テストピースとして使用できます。

     

    【用途】

    ・X線検査装置用の校正サンプル

    ・リチウムイオン電池、燃料電池の異物検査用サンプル

    ・食品の異物混入用テストピース

    ・微小の検体測定時の校正用

     

    【特徴】

    ・異物サンプル最小サイズ: Φ10μm

    ・最大板厚: t10µm

    ・最大ワークサイズ: 50mm×50mm

    ・サンプルのピックアップが可能

    ・形状はお客様のご要望に沿った形状に加工します。

    ・極低加速電圧による低ダメージ加工

    ・標準スケールで校正したSEM測定による寸法保証

     

    【サンプル例】

    材質: SUS304
    直径: Φ30μm
    厚み: t20μm
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