ナノ領域での「微小部」「薄膜」分析
株式会社日立アーバンサポート
ディスプレイ開発現場で培った高度な分析技術で、お客様の課題を解決いたします。
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理化学分析・機器分析(2)
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SIMS分析で、材料の表面を数10μm領域からppmオーダーで分析
(2015年11月13日)
TOF‒SIMSを駆使して、従来は不可能だった質量数の大きな分子イオンもppm/ppbレベルで検出可能
(2015年11月13日)
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