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SIMS分析で、材料の表面を数10μm領域からppmオーダーで分析

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理化学分析・機器分析  / 2015年11月13日 /  試験・分析・測定 先端技術

薄膜・積層膜などの深さ方向の元素分析に!

  

ドーパントの深さ方向濃度プロファイルや、不純物評価、薄膜(表面・膜中・界面)に存在する不純物の深さ方向濃度分布測定に最適な分析法です。

 

 

 

 日立アーバンサポートのSIMS分析の特徴

  • 数10μm領域からppmオーダーの高感度分析
  • μmオーダーからnmの範囲の深さ方向の分析が可能
  • 周期律表全ての元素分析が可能
  • 標準試料を用いた定量分析が可能

 

 

 保有設備

 

汎用セクター磁場型SIMS装置 IMS-7F

 

 メーカー  カメカインスツルメンツ
 型式  IMS-7F

 

水素をはじめとする軽元素にも対応し、周期律表の全ての元素の分析ができる汎用セクター磁場型SIMS装置で、マトリックス元素から極微量(ppb)まで分析可能です。

 

IMS-7F

汎用セクター磁場型SIMS装置

 

 

 分析事例

 

 

 

 

 
 

 

 
    

各種材料の表面・界面の形態、化学組成、構造など、表面分析なら

日立アーバンサポートまで、お気軽にご相談ください。