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国内唯一の電子顕微鏡専門の衛生検査所! 経験豊富な顕微鏡学会認定技士が、質の高い解析を短期間で提供します。
製品・技術

半導体、セラミックなどの材料試料の電子顕微鏡解析

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材料試料 電子顕微鏡解析  /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

金属・セラミックス・高分子材料などあらゆる試料を観察・解析

 

電子顕微鏡による材料試料解析の特長

  • 試料作製から観察・解析まで、どの段階からでも受託
  • 硬さが異なるポリマー粒子や、軟らかいゴム粒子の切片化など、高度な試料作製技術
  • 高分解能な装置による構造解析
  • 日本顕微鏡学会認定電子顕微鏡技師による信頼性の高い解析データを提供

電顕解析は熟練を要する作業で、より良いデータを得るには経験とノウハウが必要です。当社では経験豊富な技士が質の高い解析を短期間で受託しています。

 

 

 

材料試料の解析事例

 

【超伝導金属】×3,000,000 TEM  
解析試料 :超伝導金属
倍率 :×3,000,000
観察装置 :透過型電子顕微鏡(TEM)

 

Y、Ba、Cu、O Powderを振りかけ方式でカーボン支持膜の上に分散、粒子の縁の部分を拡大したもの。

 

【カーボンナノチューブの高分解能観察】×300,000 TEM  
解析試料 :カーボンナノチューブの高分解能観察
倍率 :×300,000
観察装置 :透過型電子顕微鏡(TEM)

 

単層、または複層などの構造解析を透過型電子顕微鏡で直接観察できます。

 

【ネガティブ染色法によるリポソーム多層構造の観察】×200,000 TEM  
解析試料 :ネガティブ染色法による
 リポソーム多層構造の観察
倍率 :×200,000
観察装置 :透過型電子顕微鏡(TEM)

 

染色条件を検討することによってネガティブ染色法で、層構造が観察できます。

 

【HIPS】 ×5,000  
解析試料 :ハイ・インパクト・ポリスチレン
 (HIPS)
倍率 :×5,000

 

解析には試料の薄片化が必要ですが、ゴム粒子は軟らかく、常温での薄切が困難なため、-100℃の凍結状態で切片化しています。

 

【ポリマー粒子】 ×10,000  
解析試料 :ポリマー粒子
倍率 :×5,000

 

硬さが異なるため薄切は容易ではありませんが、切片化することで表面の金属薄膜の状態が把握できます。

 

 

そのほかにもこのような解析の受託実績があります

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・ナノオーダーの粉体の粒子測定
・セラミックスの内部構造解析及び元素分析
・IC基板の断面観察による検査
・ガラスコーティング膜の断面構造解析
・凍結切片法による、ゴム素材の構造解析
・ネガティブ染色法によるリポソームの層構造の観察 ...など

 

材料試料の分析に関するご相談・ご質問などございましたら、
お気軽にお問い合わせください。