くるまの未来化を加速。車載電子部品の試験・解析から実装改善、表面処理まで。［クオルテック］

No.2042　2016年1月8日

● EV・HEV分野で日本最大の展示会に出展

車載用電子部品の信頼性試験や故障解析、各種測定からノイズ対策まで、お
客様の課題を早期に解決し、リーズナブルな価格で対応するのが株式会社ク
オルテック様です。

同社では、EV・HEV分野で日本最大の展示会「第7回 EV・HEV 駆動システム
技術展（EV JAPAN）」に昨年に引き続き出展。パワー半導体の信頼性評価に
かかせないパワーサイクル試験装置をはじめ、日本初となる固体電解質に適
したインピーダンス測定システム、大型エレクトロニック コントロール ユ
ニットの断面カットモデルなどを展示・紹介します。


■□――――――――― 【 ここにフォーカス 】 ―――――――――□■

車載用電子部品の試験・測定・解析から実装改善、表面処理まで
「コストも時間も1/2」を目指し、お客様の技術課題を解決

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■　大電流・高電圧・チップ温度リアルタイム測定が可能な試験装置
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同社では、自社開発のパワーサイクル試験装置が35台稼働。これまでの試験
実績によるノウハウを集大成した「パワーサイクル試験装置」を開発。2016
年の4月からの販売も予定しています。パワー半導体のIGBT、MOSFET、SiC、
GaN、Diode、SBD、Power Moduleの試験が可能です。試験中はチップ温度を
リアルタイムに測定し、正確な温度制御が可能になっています。さらに、数
億サイクルのアバランシェ試験機などにも対応が可能です。

同社では、市場に近い環境を再現した信頼性試験にこだわり、連続アバラン
シェ試験、チョッパ回路を利用した高速スイッチング試験なども行っていま
す。「EV・HEV 駆動システム技術展」で詳細をお確かめください。


■　新開発インピーダンス測定システムなど、新規導入設備や技術を紹介
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「EV・HEV 駆動システム技術展」では、広い温度域、かつ広い周波数帯域で
高精度なインピーダンス測定ができる固体電解質に適した測定システムを展
示します。
ほかにも、車載向け大型電子部品・機構部品の断面カットモデル（700mm角）
や、断面試料・半導体パッケージ開封試料、高耐食性無電解ニッケルメッキ
液も展示。高分解能X線CT装置による構造解析のご紹介や、車載部品の新た
な課題である「エレクトロマイグレーション」の試験方法をご提案します。
見どころ満載ですので、ぜひ足をお運びください。