高抵抗サンプル＆低バイアス電圧でも、ひと際クリアな計測データを取得可能なテスター［J-RAS］

No.1275　2011年7月14日

●　ノイズに埋もれて計測困難だったサンプルの評価に

絶縁抵抗測定器（イオンマイグレーションテスター）の開発・製造、販売と
受託試験サービスを行っているJ-RAS株式会社様。同社の絶縁抵抗測定器は、
プリント配線板や電子材料における絶縁抵抗劣化の測定・評価に最適。本日
は、発売開始以来、使い勝手の良さと抜群の性能で、お客様から高い評価を
いただいている「ECM-100」シリーズをご紹介します。


　　※※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※※

　　クリアな計測データを取得。優れた絶縁特性を持つ評価試験に
　　　　　　J-RAS　絶縁抵抗測定器「ECM-100」シリーズ

　　※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※


■　「高抵抗サンプル＆低バイアス電圧」に優れた性能を発揮
￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣
「ECM-100」シリーズは、驚くほど軽量で、コンパクトな設計です。たとえ
100CHのシステムでも、特別な重機や工具を使わず移動が簡単にでき、空い
ているチャンバーの傍の小さな空間に運んで設置が可能。設備を無駄にせず、
効率よく信頼性評価試験を行うことができます。
テスターに耐ノイズ性能や計測回路の極限の安定性能が求められる「高抵抗
サンプル＆低バイアス電圧」では、優れた性能を発揮し、ひと際クリアな計
測データを取得できます。今までノイズに埋もれ、計測困難だった優れた絶
縁特性を持つサンプルの評価試験に最適です。


■　容量性負荷を含むサンプルに最適　節電効果も
￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣￣
印加電圧の出力範囲は1V～300Vまで0.1Vステップで、CH個別に設定が可能。
独自のハイサイド計測方式により、安定した電圧印加回路は容量性負荷を含
むサンプルにも適しています。例えば、印加電圧3.3V以下・部品内蔵基板な
どの高容量性負荷でも、安定した電圧印加・電流計測精度を実現。様々な条
件でのサンプル評価をこれ1台で同時にこなします。
試験をスタートした後は本体のみで計測、データ収録を行える省エネ設計。
さらに、必要な場合を除いてパソコンは電源をOFFにしておくことができる
のでより一層の節電効果が見込めます。


同社では、「ECM-100」シリーズを使用した絶縁抵抗の受託試験にも対応。
プリント基板のイオンマイグレーション検査や絶縁抵抗測定器「ECM-100」
シリーズについてのご質問など、お気軽にお問い合わせください。