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【デモ機2ヶ月無償貸出】仕上がりに差が出る低加速処理。TEM用/SEM用イオンミリング装置。[ニューメタルス エンド ケミカルス コーポレーション]

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メールマガジン 受託分析/試験機器  / 2025年07月11日 /  産業機械機器 電子・半導体 試験・分析・測定

NAVIメールPlus 2025年7月11日配信

研究時の試料作成に貢献。デモ立ち合い、
条件出しへのアドバイスも。

研究時の試料作成に貢献する株式会社ニューメタルス エンド ケミカルス コーポレーション様は、電子顕微鏡分析の前処理に必要なイオンミリング装置ダイヤモンドワイヤーソーといった装置をラインナップ。半導体、分析センター、大学・官公庁の多くの実績を持っています。

同社では、これら輸入製品に対しても、自社サービスマンを擁して保守契約にも対応。デモを通してサンプル加工時に立ち会ってフォローお客様の条件出しにアドバイスも行っています。

大学・研究所、半導体メーカーへの実績が多い
イオンミリング装置

同社が販売をするイオンミリング装置は、イオンソースの1kV以下の低加速電圧でのパフォーマンスが高く、 仕上げ加工においてダメージレスの観察領域を平面の広範囲に獲得することが可能。
TEM用イオンミリング装置は大学・研究所に、SEM用イオンミリング装置は半導体メーカーに多数の実績を持っています。

TEM用イオンミリング装置 TEM Mill MODEL1051

特許技術であるTrueFocusイオン源を搭載し、100eV~10keVの全範囲で小さなビーム径を維持。半導体の積層膜において5nmの膜をダメージレスに残して削り取ることができます。
※物質・材料研究機構様と共同開発した薄膜専用ホルダーを特許申請中
(特願2024-002879)

TEM用イオンミリング装置 TEM Mill MODEL1051の画像
TEM用イオンミリング装置の詳細を見る

SEM用イオンミリング装置 SEM Mill MODEL1061

半導体業界、高分子材料系企業からの問い合わせ多数。
メモリの分野で、中心へのテーパー穴開けとして広く導入されています。

SEM用イオンミリング装置 SEM Mill MODEL1061の画像
SEM用イオンミリング装置の詳細を見る

ダイヤモンドワイヤー切断機 CS-203

試料作製前処理装置としては、観察面に近いところで切断位置を調整できるので、研磨、ミリング、観察といった後工程の簡略化が可能。
サンプル毎に特注治具の対応するため、費用対効果の高い製品です。

ダイヤモンドワイヤー切断機の詳細を見る
ダイヤモンドワイヤー切断機の詳細を見る

オプション品とともにデモ機の無償貸出が可能

同社では、SEM用イオンミリング装置 SEM Mill MODEL1061の国内デモ機を1台、TEM用イオンミリング装置 TEM Mill MODEL1051の国内デモ機を
2台所有。ご購入を検討されるお客様に最大2ヶ月無償で貸し出しをしております。デモ用のオプション品などとともに、ラボラトリーパッケージでのデモが可能です。

イオンミリング装置、ダイヤモンドワイヤー切断機の資料ダウンロード
イオンミリング装置、ダイヤモンドワイヤー切断機へのお問い合わせ

 

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