【9/30出展】第3回 九州半導体産業展にて、SiCパワー半導体やLSIの評価ソリューションをご紹介[沖エンジニアリング]

No.2924　2026年9月24日

● 第3回 九州半導体産業展に初出展！半導体の品質・信頼性評価をご提案

半導体の設計・製造・評価など、半導体産業に関わる幅広い技術やサービス
が集まり、技術交流や新たなビジネス機会の創出の場として注目されている
「九州半導体産業展」。

各種試験・評価・解析サービスを展開する沖エンジニアリング株式会社様は、
9月30日に開催される『第3回 九州半導体産業展』に初出展いたします。

同社ブースでは、SiCパワー半導体固有の劣化モード評価や、LSIのウェハ
テスト・信頼性評価など、半導体デバイスの品質向上と開発を支援する
ソリューションをご案内します。
貴社の製品開発における課題解決に貢献する技術を、ぜひ会場でご確認くだ
さい。


■□――――――――― 【 ここにフォーカス 】 ―――――――――□■

～半導体の品質・信頼性に関する評価のお困りごとはございませんか？～
SiCパワー半導体デバイスの劣化評価から、LSIの試験・評価、
SEE試験向けソリューションまで、当社の取り組みをご紹介いたします。

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■ 「第3回 九州半導体産業展」に出展
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九州半導体産業展は、半導体産業に関わる幅広い技術やサービスが集まる
注目の展示会です。今回、同社は本展示会に初めて出展し、皆様のビジネス
機会の創出をサポートいたします。

会期：2026年9月30日（水）～10月1日（木）10:00～17:00
会場：マリンメッセ福岡
ブース番号：B4-32
入場：事前来場登録が必要となります

>> 展示会公式サイト・事前来場登録はこちら


■　試験・評価を通じ、半導体デバイスの品質向上と開発を支援
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同社のブースでは、半導体デバイスの開発・製造におけるさまざまな課題解
決に向けた、以下の試験・評価・解析サービスをご紹介いたします。

●出展内容
・SiCパワー半導体固有の劣化モード評価
・LSIのウェハテスト／信頼性評価
・ESD試験／ラッチアップ試験
・シングルイベント（SEE）試験向けデキャップソリューション

SiCパワー半導体の劣化評価、LSIの試験・評価、SEE試験前処理に関する
課題やご相談をお持ちの方は、ぜひ同社ブースへお立ち寄りください。

>> 展示会出展概要はこちら

>> お問い合わせ


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