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EQUINOX 100 X線回折装置およびBTS500チャンバーを用いた動的解析

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X線回折装置(XRD)  / 2024年01月29日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

X線回折は、温度、環境、およびその他の外部要因によって変化する材料特性を評価するために使用される構造解析手法の1つです。相転移は、材料が熱サイクル(高温または低温)によって生じ、結晶構造が大きく変化して材料の特性が異なることがあります。


高温時における、材料の構造の相転移を調べたい場合は、Thermo Scientific™ ARL™ EQUINOX 100 X 線回折装置のリアルタイム検出器の技術によって、高速にXRD 測定が可能になりました。近年、コンパクトな高温チャンバーを卓上型XRD装置内に組み込み、全回折パターンの同時取り込みが可能なXRDの機能と組み合わせることで、高温で動的解析をより迅速かつ簡便に行うことができるようになりました。



当ページでダウンロードできるアプリケーションノートでは、ARL EQUINOX 100 X線回折
装置にAnton-Parr BTS500チャンバーを組み込んだ研究例を、コストパフォーマンスの高い新しいソリューションとしてご紹介します。

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