製品・技術
全回折パターンをリアルタイムに同時取得できる、独自のCPS検出器を搭載した卓上型X線回折装置（XRD)
ARL EQUINOX 100 X線回折装置はコンパクトな卓上型で、材料の研究開発、動的挙動解析、製薬業界のQA/QCのルーチン分析、大学などの教育機関において、迅速な分析、in situ実験、結晶相の形成と転移に関する解析などを実現します。
ARL EQUINOX 100には、独自のCPS（Curved PositionSensitive）検出器を搭載しており、全回折パターン（～110°/2θ）を短時間かつ同時に測定できます。また、薄膜測定（GIXRD、XRR）が可能で、測定に応じて多種多様なアタッチメントをご用意しています。
アプリケーション事例の紹介
【材料科学・薄膜分析】
【製薬】
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| 製品概要 | [X線源]
出力： 60 W（60 kV／1 mA） オプション：30 kV／1 mA マイクロフォーカス型X線源 （Cu、50 W／Co、15 W／Mo、50 W） [検出器] CPS（Curved Position Sensitive）検出器、 CPS180モデル ガス検出器：アルゴン／エタン（85/15） リアルタイム測定範囲：110°2θ 曲率半径：180 mm 最小記録可能角度：約1°2θ [ゴニオメーター] 固定ゴニオメーター：可動部品なし 取得角度：0～110°2θ 非対称モードで測定 [ソフトウェア] 駆動およびデータ測定 リアルタイムでのディフラクトグラム表示 多重および自動での記録 ピーク探索 デコンボリューション：複数のプロファイル関数 結晶化度、セルパラメーター、微結晶サイズ、 格子ひずみ 相の同定と定量化 結晶構造解析 相転移 薄膜（GIXRD、反射率測定） リートベルト解析 重量：約85 kg 寸法：高さ545 mm × 奥行580 mm × 幅680 mm |
| 特徴 | コンパクトな卓上型の ARLEQUINOX 100は、材料の研究開発、動的挙動解析、製剤プロセスのQA/QCのルーチン分析などの産業や大学などの教育機関において、コストパフォーマンスが高く理想的なソリューションです。
ARL EQUINOX 100は、独自のCPS（Curved PositionSensitive）検出器を搭載した装置で、全回折パターンをリアルタイムに同時取得し、迅速な分析、in situ実験、結晶相の形成と転移を実現できます。 微小角入射X線回折測定：Grazing Incidence X-Ray Diffraction (GIXRD)では、基材上の薄い結晶化成膜の相、テクスチャー、構造を同定できます。一方、反射率測定では、成膜の特性や厚さだけでなく、界面の粗さを評価することが可能です。 • 可動部品がなく信頼性が高く堅牢 • 低出力のマイクロフォーカス線源からの強力X線 • リアルタイムの同時データ取得 • さまざまな試料や分析条件に適合する試料ホルダー |
| 製品名・型番等 シリーズ名 |
ARL EQUINOX 100 X線回折装置（XRD) |
| 価格 | お問い合わせください |
| 納期 | お問い合わせください |
| メンテナンス体制 | 当製品に関するサービスは以下URLのページを参照ください。
https://www.thermofisher.com/jp/ja/home/products-and-services/services/instrument-qualification-services/instruments-maintenance/support-plans2.html |
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