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製品・技術

ARL EQUINOX 100 X線回折装置（XRD)

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X線回折装置（XRD)  / 2024年01月26日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定
全回折パターンをリアルタイムに同時取得できる、独自のCPS検出器を搭載した卓上型X線回折装置（XRD)
 
ARL EQUINOX 100 X線回折装置はコンパクトな卓上型で、材料の研究開発、動的挙動解析、製薬業界のQA/QCのルーチン分析、大学などの教育機関において、迅速な分析、in situ実験、結晶相の形成と転移に関する解析などを実現します。


ARL EQUINOX 100には、独自のCPS（Curved PositionSensitive）検出器を搭載しており、全回折パターン（～110°/2θ）を短時間かつ同時に測定できます。また、薄膜測定（GIXRD、XRR）が可能で、測定に応じて多種多様なアタッチメントをご用意しています。

 

アプリケーション事例の紹介

 

【材料科学・薄膜分析】

【製薬】
製品概要 [X線源]
出力： 60 W（60 kV／1 mA）
オプション：30 kV／1 mA
マイクロフォーカス型X線源
（Cu、50 W／Co、15 W／Mo、50 W）

[検出器]
CPS（Curved Position Sensitive）検出器、
CPS180モデル
ガス検出器：アルゴン／エタン（85/15）
リアルタイム測定範囲：110°2θ
曲率半径：180 mm
最小記録可能角度：約1°2θ

[ゴニオメーター]
固定ゴニオメーター：可動部品なし
取得角度：0～110°2θ
非対称モードで測定

[ソフトウェア]
駆動およびデータ測定
リアルタイムでのディフラクトグラム表示
多重および自動での記録
ピーク探索
デコンボリューション：複数のプロファイル関数
結晶化度、セルパラメーター、微結晶サイズ、
格子ひずみ
相の同定と定量化
結晶構造解析
相転移
薄膜（GIXRD、反射率測定）
リートベルト解析

重量：約85 kg
寸法：高さ545 mm × 奥行580 mm × 幅680 mm
特徴 コンパクトな卓上型の ARLEQUINOX 100は、材料の研究開発、動的挙動解析、製剤プロセスのQA/QCのルーチン分析などの産業や大学などの教育機関において、コストパフォーマンスが高く理想的なソリューションです。

ARL EQUINOX 100は、独自のCPS（Curved PositionSensitive）検出器を搭載した装置で、全回折パターンをリアルタイムに同時取得し、迅速な分析、in situ実験、結晶相の形成と転移を実現できます。

微小角入射X線回折測定：Grazing Incidence X-Ray Diffraction (GIXRD)では、基材上の薄い結晶化成膜の相、テクスチャー、構造を同定できます。一方、反射率測定では、成膜の特性や厚さだけでなく、界面の粗さを評価することが可能です。

• 可動部品がなく信頼性が高く堅牢
• 低出力のマイクロフォーカス線源からの強力X線
• リアルタイムの同時データ取得
• さまざまな試料や分析条件に適合する試料ホルダー
製品名・型番等
シリーズ名		 ARL EQUINOX 100 X線回折装置（XRD)
価格 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
メンテナンス体制 当製品に関するサービスは以下URLのページを参照ください。
https://www.thermofisher.com/jp/ja/home/products-and-services/services/instrument-qualification-services/instruments-maintenance/support-plans2.html

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  • ARL EQUINOX 100 X線回折装置（XRD) (1765.8KB)
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