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最大3000Vの高電圧を印加可能。絶縁劣化を連続計測・収録[J-RAS]

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メールマガジン  / 2012年03月13日 /  産業機械機器 電子・半導体 試験・分析・測定

No.1400 2012年3月13日

● 最大3000Vの高電圧を印加可能。絶縁劣化を連続計測・収録

電子部品や半導体、基板素材などにおける絶縁抵抗劣化の測定・評価に最適
なのが、J-RAS株式会社様の高電圧絶縁信頼性試験装置です。アナログ回路か
らソフトウェアまで全て自社設計。動作信頼性が高く、それぞれの用途に応
じて最適化されるので、無駄のない安定動作が実現します。


   ※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※

     電子部品や半導体などの絶縁抵抗劣化測定に最適
      高電圧絶縁信頼性試験装置「HVUsシリーズ」

   ※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※※


■ チャンネル個別電源搭載で各サンプルに安定した電圧印加を実現
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「HVUsシリーズ」はパソコンとの連動で自動データ計測や収録を行う高電圧
絶縁信頼性評価試験装置です。最大3000Vの高電圧出力回路とフィードバッ
ク制御をチャンネル毎に搭載。計測ボード(5CH)毎に試験条件の設定・開
始・終了ができるので、並列に複数試験が可能です。

高電圧リレーなどのメカニカル部品は使用していないので、信頼性の高い微
小電流を計測できます。妥協しない設計で、他のチャンネルに影響されず、
常に設定電圧を維持し、安定した電圧印加を実現します。


■ 数百チャンネルの納品実績あり。トラブルフリーの好評価
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重量が軽く、筺体サイズも 450(W)×500(H)×275(D)と小型ながら、最大40
CHまでの増設が可能。ミリ秒オーダーでサンプルの短絡検出もできます。

ワイドギャップ半導体、高電圧対応ケーブル、ICパッケージの封止材などの
絶縁信頼性試験に多く活用されており、数百チャンネルの納品実績がありま
すが、トラブルフリーの製品として評価されています。


同社では、製品購入をご検討のお客様には、無償でデモ機の貸し出しを受け
付けています。また、「HVUsシリーズ」を用いた3000Vでの受託試験もスター
ト。高電圧絶縁信頼性試験の装置購入、受託試験、機器レンタルについてお
気軽にお問い合わせください。

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