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500Vで絶縁抵抗を連続的に高速計測できる「絶縁抵抗測定器」登場。複数chのGΩオーダー以上に対応。[J-RAS]

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メールマガジン 受託分析/試験機器  / 2016年11月10日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

No.2188 2016年11月10日

● 500Vの印加電圧で、自動車関連製品の評価試験にも対応

絶縁抵抗を連続的に計測し、製品の絶縁信頼性評価を効率的に行いたいが、
通常のテスターでは高精度に、複数CHで計測できない…。
そんな不満に応えるイオンマイグレーションテスター(絶縁抵抗測定器)が
新登場。J-RAS株式会社様の「ECM-500シリーズ」です。

「ECM-500シリーズ」では、500Vの印加電圧で信頼性評価が可能。従来製品
「ECM-100シリーズ」の高精度計測能力はそのままに、電圧を大幅にアップ。
他社の格安モデルに比べ、より高精度でスピーディな測定を実現します。


■□――――――――― 【 ここにフォーカス 】 ―――――――――□■

自動車関連の電子材料やプリント基板の信頼性評価に最適
小型・軽量、高速スキャン、高性能、トラブルフリーの「絶縁抵抗測定器」


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■ 複数CH個別計測回路を搭載、50m秒/chの高速スキャンスピード
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イオンマイグレーションテスター「ECM-500シリーズ」は、GΩオーダー以上
の抵抗値を計測。高い信頼性を誇ります。

しかも、最大100CHの複数チャンネルを同時に計測可能。100n秒以下の瞬間
的な絶縁劣化をとらえる専用検出回路を各CHに搭載し、そのスキャンスピー
ドは、50m秒/chと高速です。

高精度かつスピーディ・効率的な絶縁信頼性評価を実施できます。

また、無駄のない専用設計により、小型・軽量、省電力(フル実装でも約20
kg、100VA以下)を実現しています。

>> 絶縁抵抗測定器「ECM-500シリーズ」のカタログはこちらから


■ 信頼性評価試験の装置の提案から、受託試験まで対応
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従来機種「ECM-100シリーズ」は、最大300Vの印加電圧で複数CH同時サンプ
リング処理、16m秒の計測スピードも好評ですが、自動車用関連製品の信頼
性製品評価試験における500Vでの試験要求ニーズに対応するため、新たに
「ECM-500シリーズ」を開発。このたび、販売開始します。

このほか最大3000Vと、より高電圧の「HVUαシリーズ」もあります。

このような絶縁抵抗測定器を開発・販売している同社では、自社製品を用い
た受託試験サービスも実施しています。

>> その他の絶縁抵抗測定器や受託試験についてはこちら


高精度かつスピーディ・効率的な絶縁信頼性評価を実施できる新製品の絶縁
抵抗測定器「ECM-500シリーズ」をはじめとする、イオンマイグレーション
テスターについて、お気軽にお問い合わせください。

>> イオンマイグレーションテスターのお問い合わせはこちらから


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