品質向上に貢献。OKIエンジニアリングが1/22開幕の展示会に出展。SiCパワー半導体など、最新技術を展示。[沖エンジニアリング]

No.2878　2025年1月20日

● 展示会にて最先端製品の試験・評価サービスを紹介。無料講演も開催

品質向上のための信頼性評価と解析技術で業界をリードする沖エンジニアリ
ング株式会社様は、2025年1月22日に開幕する『第39回ネプコンジャパンエレ
クトロニクス検査・試験・測定展』に出展します。

この展示会は、外観・X線検査装置、テスター、環境試験・信頼性試験装置、
各種分析装置などあらゆる検査・試験装置の主要メーカーが一堂に、約1,800
社が出展され、関連業界で注目される最新技術を網羅する展示会として期待
されています。

同社ブースでは、SiCパワー半導体やリチウムイオン電池など、最先端の製品
開発に不可欠な試験・評価サービスを多数紹介。車載用コネクターの評価や
EMC（電磁両立性）に関する最新情報も満載です。
貴社の製品開発における課題解決に、同社の技術が貢献できるかもしれませ
ん。ぜひ同社ブース（E14-32）へお立ち寄りください。


■□――――――――― 【 ここにフォーカス 】 ―――――――――□■

お客様が求めるより高品質を追求した、最新の受託試験・評価・解析サービ
スをご紹介ブース内セミナーで技術解説も実施

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■「第39回ネプコンジャパン エレクトロニクス検査・試験・測定展」
　に最新技術を出展
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「第39回ネプコンジャパン エレクトロニクス検査・試験・測定展」
会期：2025年1月22日（水）～1月24日（金） 10時～17時
会場：東京ビッグサイト 東ホール2
ブース番号：E14-32
入場：本展の入場には、公式サイトでの事前登録が必要となります
https://www.nepconjapan.jp/tokyo/ja-jp/register.html?code=1237489413272581-N2B

●同社出展内容
・SiCパワー半導体のAC-BTI試験
・信頼性試験、劣化評価、耐久性評価、故障解析
・アウトガス分析・暴露試験、化学物質調査
・各種環境試験、特殊環境試験
・加温耐水自動サイクル試験、車載向けオゾン試験
・車載EMC試験、民生EMC試験
・ISO/IEC17025校正対応

>> 展示会出展概要はこちら


■ブース内セミナーも併せて開催
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また、同ブースにて、幅広い分野の様々な『試験・評価・解析』をテーマに
講演されます。参加費用は無料なので、ぜひこちらもご参加ください。

・10時30分　電子機器・電子部品に影響を及ぼすアウトガス分析
・11時00分 ものづくりにおけるEMC（電磁両立性）
・11時30分 充放電サイクルを行ったリチウムイオン電池の安全性評価
・12時30分 AEC-Q試験概要
・13時00分 材料評価におけるオゾン試験と事例紹介
・13時40分 車載用コネクター評価
・14時20分 ものづくりの品質管理に必要な計測器校正
・15時00分 品質・信頼性を確保するための故障解析
・15時40分 SiCパワー半導体のAC-BTI試験

>> ブース内セミナー


■展示会特設サイトオープン
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ネプコンジャパン出展に合わせ、展示会特設サイトもオープンしています。
本展ご来場が難しい方は、Webページにぜひお立ち寄りください。

>> 展示会特設サイト


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