対応試験の紹介
異物解析
■異物解析
OKIエンジニアリングでは、異物の形状、大きさなどに合わせ、フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）や走査型電子顕微鏡（SEM・SEM－EDX）などの適切な分析手法にて分析を行い、異物の観察から定性分析、原因の特定、その対処方法のご提案に至るまでの解析全てをご提供し、問題解決の支援をします。
試験所所在地
- 東京都練馬区
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