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「化学分析」に関するページ
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【新サービス】最新REACH規則対応「SVHC含有量分析サービス」開始
最新REACH規則対応「SVHC含有量分析サービス」開始 グローバル市場の規制対応と国内一貫体制により機密保持を実現 人々の健康や環境保全を目的に、SVHCリストに掲載される物質は年々増加しています。通常、製品の含… -
濃度基準値設定物質の確認測定(リスクアセスメント対象物)作業環境測定・個人ばく露測定に対応します。 令和6年4月1日から、濃度基準値が設定されたリスクアセスメント対象物質を扱う労働者のばく露を基準値以下で…
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基板清浄度評価IPC-TM-650 2.3に準拠した基板清浄度などの試験サービスを提供します。 プリント基板表面が導電性物質やイオン残渣で汚染されていると、基板配線や素子のリードが腐食したり、絶縁不良やマイグレーシ…
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燃焼イオンクロマトグラフ法(C-IC法)によるハロゲン分析ハロゲン系難燃剤(塩素・臭素化合物)や三酸化アンチモン(難燃助剤)は、電子部品用樹脂材料などで広く使用されてきました。ハロゲン系難燃剤を含む材料を…
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REACH規則対応高懸念物質(SVHC)35次リスト 2物質 分析サービス開始
REACH規則 第35次SVHC候補 2物質が確定し、253物質となりました。当社は、REACH規則で定められた高懸念物質(SVHC)分析を低コスト、短納期で、迅速にスクリーニング分析が可能です。対応可能範囲のリストを随時更新… -
REACH規則で定められた高懸念物質(SVHC)分析を低コスト、短納期でご提供 RSVHC(高懸念物質:substances of very high concern)とは、将来的に認可対象(附属書XIV)となる可能性がある高懸念物質であり、Candid…
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RoHS2.0 フタル酸エステル類分析にも対応 電気・電子機器などの製品に含まれる微量なカドミウム、鉛等の含有がヨーロッパ諸国を中心に環境問題の観点から注目されております。これらの規制で許容レベルを超えると判…
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シロキサンによる接点障害を防止します シロキサン接点障害に関する、原因解析、シロキサンガスの発生源特定、発生量測定シロキサンガス暴露試験(再現試験)など一連の分析、解析、再現試験等をワンストップで実施…
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高度な微量分析によりお客様の電子機器・電子部品の障害対策を支援 電極、配線などに銀を用いる電子回路基板では、しばしば硫黄系ガスによる金属腐食が不具合の要因となります。硫黄系ガスの中でも硫化水素、二酸化…
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車載部品のVOC(揮発性有機化合物)分析事例 シックハウス症候群問題を発端に、車載部品のVOC発生量を低減していくことが求められています。各自動車メーカーにより、測定対象物質、サンプリング方法、測定条件が異…
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化学分析、成分分析(RoHS・REACH、材料分析・組成分析)
地球規模での環境破壊防止が要請される中で、環境に関わる大気分析、水質分析や環境基準に基づく各種測定を実施します。RoHS指令の規制6物質、REACH規則対応高懸念物質(SVHC)の分析での蛍光X線分析によるスクリー…
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- 見る場所が違えば測定結果も変わる—その理由とは何でしょうか。 (2026年09月11日)
- 第3回 九州半導体産業展に出展 (2026年09月08日)
- 【新サービス】最新REACH規則対応「SVHC含有量分析サービス」開始 (2026年09月07日)
- 濃度基準値設定物質の確認測定 (2026年09月01日)
- 基板清浄度評価 (2026年08月31日)




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