対応試験の紹介
集束イオンビーム加工観察（FIB）
故障解析・構造解析に必須のクロスセクション・サンプリングを提供します。目的に応じたデバイスの加工から解析・評価までトータルにサポートします。
試験所所在地
- 東京都練馬区
- サイト内検索
- オフィシャルサイト
- ページカテゴリ一覧
- 新着ページ
-
- BATTERY JAPAN 二次電池展 インタビュー動画 (2025年10月29日)
- 2025 OEGセミナー［11/14 オンライン］のご案内 (2025年10月10日)
- 「TECHNO-FRONTIER 2025（テクノフロンティア）」 出展レポート (2025年10月02日)
- 高崎ラボ開所に至るまで (2025年09月02日)
- 「人とくるまのテクノロジー展2025 YOKOHAMA」出展レポート (2025年06月17日)
