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対応試験の紹介

集束イオンビーム加工観察(FIB)

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集束イオンビーム加工観察(FIB)

故障解析・構造解析に必須のクロスセクション・サンプリングを提供します。目的に応じたデバイスの加工から解析・評価までトータルにサポートします。

試験所所在地

  • 東京都練馬区