対応試験の紹介
集束イオンビーム加工観察（FIB）
故障解析・構造解析に必須のクロスセクション・サンプリングを提供します。目的に応じたデバイスの加工から解析・評価までトータルにサポートします。
試験所所在地
- 東京都練馬区
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