製品・技術
急速温度変化チャンバー試験
最大15℃/minの温度勾配制御ができ、試料温度制御と空気温度制御による温度サイクル試験が可能です。
試料温度ランプレート15℃/分以下(−40~+125℃)の規格試験を、正確に行うことができます。
自動車規格試験、半導体デバイス、半導体パッケージ、はんだ接合部の寿命評価等の信頼性評価に適しています。
適用試験
- 自動車規格試験
- 半導体パッケージや半導体デバイスの寿命評価
- はんだ接合部の寿命評価
参照規格
JESD22-A104E、IEC60749-25
設備詳細
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急速温度変化チャンバー
メーカー エスペック 試験例 温度サイクル試験(冷熱衝撃試験) 装置スペック 温度制御範囲:-70~+180℃
試料温度制御と空気温度制御が可能
W800×D400×H500mm
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