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株式会社レスター
製品・技術

急速温度変化チャンバー試験

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試験・分析・測定

急速温度変化チャンバー試験

最大15℃/minの温度勾配制御ができ、試料温度制御と空気温度制御による温度サイクル試験が可能です。

試料温度ランプレート15℃/分以下(−40~+125℃)の規格試験を、正確に行うことができます。

自動車規格試験、半導体デバイス、半導体パッケージ、はんだ接合部の寿命評価等の信頼性評価に適しています。

適用試験

  • 自動車規格試験
  • 半導体パッケージや半導体デバイスの寿命評価
  • はんだ接合部の寿命評価

参照規格

JESD22-A104E、IEC60749-25

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設備詳細

  • 急速温度変化チャンバー

    急速温度変化チャンバー

    メーカー エスペック
    試験例 温度サイクル試験(冷熱衝撃試験)
    装置スペック

    温度制御範囲:-70~+180℃
    試料温度制御と空気温度制御が可能
    W800×D400×H500mm

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信頼性試験・解析・分析について、お困りのことがございましたら、まずはお気軽にお問い合わせください。

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