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お問い合わせ株式会社レスターの設備紹介
各種信頼性試験装置・解析設備・計測器を取り揃えております。
環境試験機
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恒温槽
メーカー エスペック 試験例 高温保存試験、高温動作試験 装置スペック 温度制御範囲：+20℃～200℃
W600×D600×H600mm
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ギアオーブン
メーカー 東洋精機 試験例 耐熱試験 装置スペック 最高温度：300℃
W600×D600×H600mm
試料回転架台：8〜10回転/分
空気置換設定あり
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プレッシャークッカー
メーカー エスペック・平山製作所 試験例 プレッシャークッカー試験
HAST・バイアスHAST装置スペック 温度制御範囲：＋105～162.2℃
湿度制御範囲：75～100％rh
圧力範囲：0.020～0.392Mpa
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恒温恒湿槽
メーカー エスペック・エタック 試験例 高温高湿試験、温湿度サイクル試験
高温高湿バイアス試験
低温保存試験、低温動作試験装置スペック 温度制御範囲：-40℃～+100℃
湿度制御範囲：20％～98％
小型：W500×D350×H350mm
中型：W700×D700×H950mm
大型：W1000×D800×H1000mm
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急速温度変化チャンバー
メーカー エスペック 試験例 温度サイクル試験（冷熱衝撃試験） 装置スペック 温度制御範囲：－70～＋180℃
試料温度制御と空気温度制御が可能
W800 × D400 × H500mm
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温度サイクル試験槽
メーカー エタック、エスペック、日立 試験例 温度サイクル試験（冷熱衝撃試験） 装置スペック 温度制御範囲：-65～0℃、60～200℃
W410×D370×H460mm（70L）
W650×D370×H460mm（100L）
W700×D600×H500mm（210L）
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冷熱衝撃試験（2槽式）
メーカー エスペック 試験例 温度サイクル試験（冷熱衝撃試験） 装置スペック 高温さらし：＋60～＋205℃
低温さらし：－77～0℃
W710×D410×H345mm
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恒温槽（超低温槽）
メーカー エスペック 試験例 高温保存試験、高温動作試験
低温保存試験、低温動作試験装置スペック 温度制御範囲：－85℃～180℃
W400×D400×H400mm
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大型恒温恒湿試験槽
メーカー 日立アプライアンス 試験例 高温高湿試験、温湿度サイクル試験
高温高湿バイアス試験
低温保存試験、低温動作試験装置スペック 温度制御範囲：-70℃～150℃
湿度制御範囲：20%～95%RH
内寸：W1400×D1800×H1500mm
機械強度試験
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複合振動試験機-2（厚木）
メーカー IMV 装置スペック 型式：A22/EM2HAM
加振方式：1軸垂直
最大加振力： サイン ・22kN
ランダム・22kNrms
ショック・44kNM最大加速度：サイン ・1000m/s2
ランダム・630m/s2rms
ショック・2,000m/s2最大速度：2.0m/sec
最大変位：51mmp-p
最大搭載質量：300kg
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振動試験機
メーカー IMV 試験例 正弦波振動試験、ランダム振動試験 装置スペック 加振力：10kN
周波数範囲：～4500Hz
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衝撃試験機
メーカー AVEX 試験例 衝撃試験機 装置スペック 衝撃加速度：10～3,000G
衝撃作用時間：0.1～60msec
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複合振動試験機-1
メーカー IMV、エスペック 試験例 低温,高温／振動複合試験
温度,湿度／振動複合試験
装置スペック 温度制御範囲：-70℃～+150℃
湿度制御範囲：20％～98％
内寸：W1000×D1000×H1000mm
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落下試験
メーカー Lansmont(PDT-56ED) 試験例 梱包落下試験 装置スペック ベースプレート：910×1410mm
高さ：250mm
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万能試験機
メーカー イマダ 試験例 引張強度試験、固着性試験
基板曲げ性試験（歪み率）、シェア強度試験装置スペック 500N デジタル10～300mm/min -
ESD／LU試験機
メーカー 東京電子交易 試験例 MM試験、HBM試験、
ラッチアップ試験（パルス電流注入法）
ラッチアップ試験（電源過電圧法）装置スペック 印加電圧：MM 5～800V, HBM 5～4000V
LU4電源
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CDM試験機
メーカー 阪和電子工業 試験例 CDM試験 装置スペック 印加電圧：0～4000V
ユニット：JEDEC・JEITA・EIAJ
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