熱衝撃試験

電子部品、電子機器、その他製品などが高温/低温に繰り返しさらされることによる温度変化ストレスに対する耐久性を評価します。サンプルへの電圧印加、槽内温度プロファイル、指定サイクルにおけるサンプル抜取り評価などご要望に従い実施します。

■適用例
・急激な温度変化にさらされる電子部品・製品などの温度耐性評価
・車載部品・製品などの温度耐性評価
・熱膨張係数の異なる材料間の熱膨張率の違いによるクラック発生評価
・はんだ実装における接合強度の経時変化、接合界面変化の評価

試験に使用する装置のスペック
冷熱衝撃試験（2槽式）
高温さらし：＋60～＋205℃
低温さらし：－77～0℃
W710 × D410 × H345mm

温度サイクル試験槽
温度制御範囲：-65～0℃、60～200℃
W410mm×H460mm×D370mm（70L）
W650mm×H460mm×D370mm（100L）
W700mm×H500mm×D600mm（210L）

急速温度変化チャンバー
温度制御範囲：－70～＋180℃
試料温度制御と空気温度制御が可能
W800 × D400 × H500mm