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AECとは

自動車電子・半導体試験・分析・測定

AEC規格とは

アメリカの大手自動車メーカーが中心となって設立されたAEC（Automotive Electronics Council）により、車載電子部品の信頼性試験規格として策定されました。現在の世界標準となっているため、多くの自動車メーカーが部品調達の際に必須条件としています。

当社の車載用半導体の信頼性試験では、AEC-Q101の一部試験項目に対応しております。

AEC-Q101：車載用個別半導体を対象とした信頼性試験規格

AEC-Q101は、AECが策定した自動車用途向けディスクリート半導体デバイスの信頼性試験に関する規格です。トランジスタやダイオードなどのディスクリート半導体が、自動車環境で求められる品質と信頼性基準を満たすための最小限のストレス試験要件と試験条件を定めています。

■AEC-Q101試験項目一覧

試験項目名（日本語）	略称	試験項目名（英語）
高温逆バイアス試験	HTRB	High Temperature Reverse Bias
高温ゲートバイアス試験	HTGB	High Temperature Gate Bias
高温高湿　逆バイアス試験	H3TRB	High Humidity High Temp. Reverse Bias
定常動作試験	SSOP	Steady State Operational
前処理	PC	Pre-conditioning
バイアス印加　高温高湿試験	HAST	Highly Accelerated Stress Test
バイアスなし、高温高湿試験	UHAST	Unbiased HAST
オートクレーブ	AC	Autoclave
温度サイクル試験	TC	Temperature Cycling
高温テスト（温度サイクル試験後）	TCHT	Temperature Cycling Hot Test
内部剥離検査（温度サイクル試験後）	TCDT	TC Delamination Test
ON／OFF動作寿命	IOL	Intermittent Operational Life
パワー温度サイクル試験	PTC	Power Temperature Cycling
ACブロッキング電圧	ACBV	AC blocking voltage
破壊的物理解析	DPA	Destructive Physical Analysis
寸法測定	PD	Physical Dimension
ワイヤボンドプル強度	WBP	Wire Bond Pull Strength
ワイヤボンド強度	WBS	Wire Bond Shear Strength
ダイシェア強度	DS	Die Shear
リード強度	TS	Terminal Strength
耐溶剤性試験	RTS	Resistance to Solvents
半田耐熱性試験	RSH	Resistance to Solder Heat
熱抵抗測定	TR	Thermal Resistance
はんだ濡れ性試験	SD	Solderability
ウィスカ評価試験	WG	Whisker Growth Evaluation
定加速度試験	CA	Constant Acceleration
振動試験	VVF	Vibration Variable Frequency
衝撃試験	MS	Mechanical Shock
封止試験	HER	Hermeticity
プロセス変更時に実施	DI	Dielectric Integrity
外観検査	EV	External Visual
電気的特性（ストレス試験前後）	TEST	Pre- and PostStress Electrical Test
パラメータ検証	PV	Parametric Verification
人体モデル静電破壊試験	ESDH	ESD HBM Characterization
デバイス帯電モデル静電破壊試験	ESDC	ESD CDM Characterization
非クランプインダクティブスイッチング	UIS	Unclamped Inductive Switching
短絡試験（ショートサーキット）	SC	Short Circuit Characterization