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AQGとは
自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
AQG規格とは
AQG規格は主に自動車用パワーモジュールの認証ガイドライン（AQG-324）とWHOの大気質ガイドライン（AQG）という2つの規格を指しますが、ここではAQG-324について説明します。
AQG-324：車載用パワーコンバータユニット（PCU）に使用されるパワーモジュールを対象とした信頼性試験規格
ヨーロッパのECPE（European Center for Power Electronics）により策定された規格。ドイツの自動車メーカーが開発した「LV324」に基づいて策定されました。
当社の車載用半導体の信頼性試験では、AQG-324の一部試験項目に対応しております。
■AQG-324試験項目一覧
| 試験項目名（日本語） | No, 略称 | 試験項目名（英語） |
| 高温逆バイアス試験 | QL-05：HTRB | High-temperature reverse bias |
| 高温ゲートバイアス試験 | QL-06： HTGB |
High-temperature gate bias |
| 高温高湿 逆バイアス試験 |
QL-07： H3TRB |
High-humidity, high-temperature reverse bias |
| モジュールテスト | QM-01 | Module test |
| 寄生浮遊インダクタンスの測定（Lp） | QC-01 | Determining parasitic stray inductance (Lp) |
| 熱抵抗の測定（Rth値） | QC-02 | Determining thermal resistance (Rth value) |
| 短絡耐量の測定 | QC-03 | Determining short-circuit capability |
| 絶縁試験 | QC-04 | Insulation test |
| 機械的データの測定 | QC-05 | Determining mechanical data |
| 温度サイクル試験 | QE-01：TST | Thermal shock test |
| 接触性 | QE-02：CO | Contactability |
| 振動 | QE-03：V | Vibration |
| 機械的衝撃 | QE-04：MS | Mechanical shock |
| パワーサイクル試験 （短時間）（ton < 5s） |
QL-01：Pcsec | Power cycling |
| パワーサイクル試験 （長時間）（ton > 15s） |
QL-02 ：PCmin |
Power cycle |
| 高温保存試験 | QL-03：HTS | High-temperature storage |
| 低温保存試験 | QL-04：LTS | Low-temperature storage |
| 動的逆バイアス試験 | QL-05a：DRB | Dynamic reverse bias |
| 動的ゲートストレス試験 | QL-06a：DGS | Dynamic gate stress |
| 動的順バイアス試験 | QL-07a： dyn. H3TRB |
Dynamic high-humidity, high-temperature reverse bias |
| 高温順バイアス試験 | QL-08：HTFB | High-temperature forward bias |
| 動的高温順バイアス試験 | QL-08a： dyn. HTFB |
Dynamic high-temperature forward bias |
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