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AQGとは

自動車電子・半導体試験・分析・測定

AQG規格は主に自動車用パワーモジュールの認証ガイドライン（AQG-324）とWHOの大気質ガイドライン（AQG）という2つの規格を指しますが、ここではAQG-324について説明します。

ヨーロッパのECPE（European Center for Power Electronics）により策定された規格。ドイツの自動車メーカーが開発した「LV324」に基づいて策定されました。
当社の車載用半導体の信頼性試験では、AQG-324の一部試験項目に対応しております。

試験項目名（日本語）	No, 略称	試験項目名（英語）
高温逆バイアス試験	QL-05：HTRB	High-temperature reverse bias
高温ゲートバイアス試験	QL-06： HTGB	High-temperature gate bias
高温高湿逆バイアス試験	QL-07： H3TRB	High-humidity, high-temperature reverse bias
モジュールテスト	QM-01	Module test
寄生浮遊インダクタンスの測定（Lp）	QC-01	Determining parasitic stray inductance (Lp)
熱抵抗の測定（Rth値）	QC-02	Determining thermal resistance (Rth value)
短絡耐量の測定	QC-03	Determining short-circuit capability
絶縁試験	QC-04	Insulation test
機械的データの測定	QC-05	Determining mechanical data
温度サイクル試験	QE-01：TST	Thermal shock test
接触性	QE-02：CO	Contactability
振動	QE-03：V	Vibration
機械的衝撃	QE-04：MS	Mechanical shock
パワーサイクル試験（短時間）（ton < 5s）	QL-01：Pcsec	Power cycling
パワーサイクル試験（長時間）（ton > 15s）	QL-02 ：PCmin	Power cycle
高温保存試験	QL-03：HTS	High-temperature storage
低温保存試験	QL-04：LTS	Low-temperature storage
動的逆バイアス試験	QL-05a：DRB	Dynamic reverse bias
動的ゲートストレス試験	QL-06a：DGS	Dynamic gate stress
動的順バイアス試験	QL-07a： dyn. H3TRB	Dynamic high-humidity, high-temperature reverse bias
高温順バイアス試験	QL-08：HTFB	High-temperature forward bias
動的高温順バイアス試験	QL-08a： dyn. HTFB	Dynamic high-temperature forward bias