| イベント名 | プラズマの基礎特性と半導体成膜、エッチングでの応用技術 |
|---|---|
| 開催期間 |
2026年03月04日(水)
~ 2026年03月23日(月)
13:00~16:30 【アーカイブ(録画)配信】 2026年3月13日まで受付(視聴期間:3月13日~3月23日まで) |
| 会場名 | ZOOMを利用したLive配信 ※会場での講義は行いません |
| 会場の住所 | 東京都 |
| お申し込み期限日 | 2026年03月03日(火)15時 |
| お申し込み |
|
<セミナー No.603421>
【Live配信 or アーカイブ配信】
プラズマの基礎特性と半導体成膜、エッチングでの応用技術
★ プラズマの生成機構は? CVDやエッチングの原理、処理条件の最適化法を詳解!
■ 講師
東京電機大学大学院 非常勤講師 工学博士 市川 幸美 氏
■ 聴講料:1名につき49,500円(消費税込・資料付き)
〔1社2名以上同時申込の場合1名につき44,000円(税込)〕
〔大学、公的機関、医療機関の方には割引制度があります。詳しくはお問い合わせください〕
■Live配信セミナーの受講について
・下記リンクから視聴環境を確認の上、お申し込みください。
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・開催日が近くなりましたら、視聴用のURLとパスワードをメールにてご連絡申し上げます。セミナー開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。
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・セミナー資料はお申込み時にお知らせいただいた住所へお送りいたします。お申込みが直前の場合には、開催日までに資料の到着が間に合わないことがあります。ご了承ください。
・当日は講師への質問することができます。可能な範囲で個別質問にも対応いたします。
・本講座で使用される資料や配信動画は著作物であり、録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止いたします。
・本講座はお申し込みいただいた方のみ受講いただけます。複数端末から同時に視聴することや複数人での視聴は禁止いたします。
・Zoomのグループにパスワードを設定しています。部外者の参加を防ぐため、パスワードを外部に漏洩しないでください。万が一部外者が侵入した場合は管理者側で部外者の退出あるいはセミナーを終了いたします。
■ プログラム
【講座概要】
プラズマはLSIをはじめとした半導体デバイスを作製する上で、必須のツールになっています。しかし、半導体プロセスに用いられるプラズマの原理や基礎について系統的に学ぶ機会は少ないと思います。今後も半導体製造プロセスにプラズマを利用して最先端のデバイスを生産していくためには、その物理的な考え方、特徴の基礎を理解することが不可欠になります。そこで、本講座では、まず前半で薄膜堆積やエッチングに用いられるプラズマ(非平衡プラズマと呼ばれる)の特徴や生成機構について解説します。後半ではそれらを踏まえ、プラズマCVDやドライエッチングの特徴、原理、装置の構造、処理条件の最適化法などについて解説します。
【受講後習得できること】
・半導体プロセスに用いられるプラズマの原理と特徴
・成膜に用いられるプラズマCVDの原理や基本的な装置構造
・ドライエッチングの原理や基本的な装置構造
1.プラズマの基礎
1.1 プラズマとは
1.2 気体分子運動論の基礎
1.3 電子‐分子の衝突反応の種類と基礎理論
1.4 プラズマの基礎方程式(拡散方程式、連続の式など)
1.5 両極性拡散理論を用いた基礎方程式の単純化
1.6 プラズマの生成と特性(直流放電プラズマ)
1.7 プラズマの生成と特性(容量性結合RF放電プラズマ)
1.8 プラズマの生成と特性(誘導性結合RF放電プラズマ)
1.9 プラズマの生成と特性(大気圧プラズマ)
2.プラズマCVD
2.1 解離衝突反応とラジカル生成
2.2 Franck-Condonの原理
2.3 プラズマCVDの特徴と原理(アモルファスSi薄膜を中心に)
2.4 製膜パラメータの考え方
2.5 アモルファスSi堆積条件と高品質化
3.プラズマエッチング
3.1 プラズマエッチングの特徴と原理(等方性、異方性)
3.2 代表的なエッチングガス
3.3 エッチングレート、選択比の制御例エッチングダメージ
3.4 エッチング装置の種類と特徴
3.5 エッチングダメージ
3.6 終点検出の原理
【質疑応答】
セミナーの詳細についてはお気軽にお問い合わせください。
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