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業界初 3Aまで電流印加した導通信頼性試験が行える多チャンネルテスター。[J-RAS]

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メールマガジン 受託分析/試験機器  / 2015年07月14日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 EMS

No.1959 2015年7月14日

● 印加電流を0.25A~3Aまでの間で0.01A単位で任意に可変

J-RAS株式会社様が開発した高速テスター「RTm-30DC」は、3Aまで電流印加
した導通信頼性試験が行える唯一の多チャンネルテスターです。

1μΩ以下の低い抵抗値のデータもノイズが少なく、計測分解能も5μΩ以下
を実現。安定した計測結果が得られます。そのうえ、W265×D330.3×H405mm
と小さく、4計測ユニット装着でも15kgという軽さです。
機械的機構がないので、故障が少ない測定器です。


■□――――――――― 【 ここにフォーカス 】 ―――――――――□■

最大3Aの高電流出力で、1個のVIA 微小抵抗値変化を高精度計測
スルーホールVIA、IVHなど、導通信頼性評価に高速テスター「RTm-30DC」

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■ 0.25A~3Aまで0.01Aステップで自在に印加電流を設定可能
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「RTm-30DC」は同社製品「RTm-100」より、さらに微弱な抵抗値を計測でき
るようになりました。最大3Aまで電流印加した導通信頼性試験が行える、業
界初の多チャンネルテスターです。

「RTm-30DC」は印加電流を0.25A~3Aまでの間で0.01A単位で任意に可変でき
ます。だから評価対象のVIAに与えるエネルギーを最適化でき、より理想的
な導通信頼性評価が可能です。


■ 早く、ノイズが少なく、クリアなデータ計測を実現
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「RTm-30DC」は高速スキャン処理だから、計測サイクルの早い液槽試験、ホ
ットオイル試験にも最適です。

CH毎のツイストペア構造の計測ケーブルで、伝搬するノイズを効果的に低減
し、ノイズを徹底的に排除。高精度でクリアなデータ計測が可能です。
機械式リレーといった機械的機構がないので、故障も少なく高メンテナンス
性も実現しています。


導通信頼性テスター「RTm-30DC」について、お気軽にお問い合わせください。
 

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