【1台2役】100ナノ秒以下で絶縁劣化を検出。静電容量データの計測も可能な高電圧テスター。［J-RAS］

No.2006　2015年10月15日

● 1台2役、恒温槽内で絶縁抵抗と静電容量を自動計測＋省スペース化

近年、電子機器や家電製品などのリコールや不具合による事故などで、製品
の安全・信頼性に関する評価が注目されています。

数ある信頼性試験の中でも、プリント配線板や電子材料などの重要な絶縁信
頼性（イオンマイグレーション）に関連した装置の開発や受託試験を行って
いるのがJ-RAS株式会社様です。

業界最速50m秒/ch、数mΩの低い抵抗値も計測できる導通信頼性評価テスター
など、高精度な装置を開発・販売しています。


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100ナノ秒以下での絶縁劣化を検出できる高電圧テスター
装置のカスタマイズや、受託試験サービスにも対応

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■　1台で静電容量データも計測できる絶縁信頼性テスター。
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省スペースでありながら、100ナノ秒以下の瞬間的な電流変化・絶縁劣化を
高速に検出できるのが、高性能絶縁信頼性テスター「HVUαシリーズ」です。

オプションの「静電容量計測」機能を追加すれば、絶縁抵抗データを常時モ
ニタリングしながら、定期的に静電容量データを計測することができます。
1台で全ての作業が完了するため、恒温槽からのサンプル取り出しや、入れ
替え作業が不要。計測ケーブルの付け替え作業も必要ないため、より信頼性
の高いデータの取得や作業ミスの低減にもつながります。

もちろん、絶縁信頼性テスターだけでも高性能。3kVの高電圧での出力や各
チャンネルに個別の電圧出力を設定するなど、コンデンサの信頼性評価試験
にも最適なテスターです。

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■　寿命加速条件の試験にも対応。イオンマイグレーション試験。
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同社では、装置開発から携わっているからこそできる高精度な受託試験サー
ビスにも対応しています。

一般的な恒温恒湿試験槽による試験のほか、HASTによる高い寿命加速条件の
試験にも対応。試験終了後、デンドライトの顕微鏡撮影や解析のご要望にも
お応えします。
イオンマイグレーションに関する受託試験サービスやコンサルティングなど、
解析や対策に関するお悩みもご相談ください。

同社は、1月のエレクトロテスト ジャパンに出展。現在開発中の最新装置も
初披露しますので、お越しの際は、ぜひお立ち寄りください。

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