世界一流の分析技術。強みは高感度の不純物分析／極薄膜の膜厚観察・組成評価。無料分析セミナー情報も。[ナノサイエンス］

No.2218　2017年1月24日

● 高い分解能で高品質なデータをリーズナブルな価格で迅速に提供

ご存じですか？　ナノサイエンス株式会社は、米国EAGの日本支社だという
ことを。EAGの世界一流の分析技術を日本で利用することができます。

高感度の不純物分析や微小領域の形態観察、組成分析を得意とする同社では、
STEM（走査透過電子顕微鏡）分析のニーズも高いです。高い分解能で高品質
なデータは、デバイス開発や製品調査などに定評があります。


■□――――――――― 【 ここにフォーカス 】 ―――――――――□■

表面分析受託サービス専門会社ならでは
高品質なデータをリーズナブルな価格でスピーディーに提供

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■　MQW中の厚さ3.3nmのInGaN層分析など、極薄膜の膜厚や組成を評価
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ニーズの多いSTEM分析のひとつがGaN系LEDデバイスの分析です。
MQW中の厚さ3.3nmのInGaN層を分析。高解像のSTEM画像、マッピング画像、
ライン分析などから構造、組成情報を得ることができます。

同社では、STEMはもちろん、AC-STEM（球面収差補正STEM）を用いた、極薄
膜の膜厚評価、組成評価など、高品質なデータを提供しています。


■　あらゆるニーズに即応する表面分析や信頼性試験を実施
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同社ではこのほか、SIMS分析、TEM分析など、各種表面分析受託サービスを
実施。世界中の優れた表面分析技術や、環境影響評価試験を提供すると共に、
分析に必要な各種標準試料の販売も行っています。

さらに、実例を通して各種分析手法の特徴をご理解頂き、現場での分析を
より有効に使用して頂けるように無料セミナーも積極的に企画しています。

今回は初の九州開催の分析基礎セミナーをご紹介します。
貴重な機会ですので、お近くの方は、ぜひ参加申し込みをされてはいかがで
しょうか。


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