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無料の分析応用セミナー(ランチ付)//TEMとSIMSのエキスパートが講演、新技術も紹介[ナノサイエンス]

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メールマガジン 受託分析/試験機器  / 2017年09月07日 /  鉄/非鉄金属 電子・半導体 試験・分析・測定

No.2309 2017年9月7日

● 半導体、金属、ガラス、セラミックス材料の評価にお役立ちセミナー

40台以上のSIMS装置を保有し、表面分析の分野で世界一の規模を持つEAG社。
この世界最大手の分析会社の各種分析評価サービスを日本で行っているのが
ナノサイエンス株式会社様です。同社の受託分析サービスは、高品質のデー
タを比較的短時間で提供できるのが強みです。

10月6日(金)、同社では「プロセスエンジニアのための分析応用セミナー」
(無料)を東京で開催します。午前の部終了後にはランチ、午後の休憩には
お茶とお菓子をご用意しています。先着順となりますので、お早めにお申込
みください。


■□――――――――― 【 ここにフォーカス 】 ―――――――――□■

各種半導体、金属、ガラス、セラミックス材料の評価に有効
「プロセスエンジニアのための分析応用セミナー」10月6日(金)開催

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■ 半導体、金属、ガラス・セラミックス業界で特に注目の内容
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「プロセスエンジニアのための分析応用セミナー」は、EAGが得意とする
SIMS、TEM/SEMを中心とした最新のアプリケーションや、これらの分析手法
から得たデータの見方を理解できるセミナー内容となっています。

半導体業界、金属業界、ガラス・セラミックス業界の方は特に注目です。
Mgイオン注入GaN試料の結晶性評価や、SEMによる電子デバイス材料評価の
ポイントを事例を交えてご紹介します。

ぜひ、この貴重な機会をお見逃しないようお申込みください。


■ TEMとSIMSのエキスパートを米国から招待し、最新技術を紹介
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このたびの「プロセスエンジニアのための分析応用セミナー」は、同社の創
立25周年を記念して開催されるもので、東京・九州などで開催した大好評の
「基礎セミナー」の応用編です。

法政大学の先生による特別講演のほか、アメリカの分析ラボからTEMとSIMS
のエキスパートを招き、講演を行う予定です。

質疑応答の時間もありますので、この機会に気になっていることなどをご質
問ください。


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