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電子機器・部品・材料の各種信頼性試験およびEMC測定などに幅広く対応
対応試験の紹介

車載用電子部品の信頼性試験(AEC-Q101)

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OKIエンジニアリングで対応可能な試験及びAEC規格について紹介します。

■AEC-Q101 個別半導体(ディスクリート)部品を対象
 (コンデンサー・トランジスタ・ダイオード等)
・ストレス試験前後の電気的特性取得

・前処理 SMD部品 Test#7, 8, 9, 10のみ
 JESD22-A113

・外観検査
 JESD22-B101

・パラメータ検証

・高温逆バイアス試験
 MIL-STD-750-1 M1038 MethodA

・ACブロッキング電圧
 MIL-STD-750-1 M1040 TestConditionA

・高温順バイアス試験
 JESD22-A108

・定常動作試験
 MIL-STD-750-1 M1038 ConditionB

・高温ゲートバイアス試験
 JESD22-A108

・温度サイクル試験
 JESD22-A104 Appendix 6

・温度サイクル試験後の高温テスト
 JESD22-A104 Appendix 6

・温度サイクル試験後の内部剥離検査
 JESD22-A104 Appendix 6
 J-STD-035

・高温バイアス試験500時間後のワイヤボンド強度
 MIL-STD-750 Method 2037

・バイアスなし、高温高湿試験
 JESD22-A118

・オートクレーブ
 JESD22-A102

・バイアス印加 高温高湿試験
 JESD22-A110

・高温高湿 逆バイアス試験
 JESD22-A101

・高温高湿 順バイアス試験
 JESD22-A101

・ON/OFF動作寿命
 MIL-STD-750 Method 1037

・パワー温度サイクル試験
 JESD22-A105

・静電破壊試験 HBM、CDM
 AEC-Q101-001
 AEC-Q101-005

・破壊的物理解析
 AEC-Q101-004 Section4

・寸法測定
 JESD22-B100

・リード強度
 MIL-STD-750 Method 2036

・耐溶剤性試験
 JESD22-B107

・定加速度試験
 MIL-STD-750 Method 2006

・振動試験
 JESD22-B103

・衝撃試験
 JESD22-B104

・封止試験
 JESD22-A109

・半田耐熱性試験
 JESD22-A111(SMD)
 JESD22-B106(PTH)

・はんだ濡れ性試験
 J-STD-002
 JESD22-B102

・熱抵抗測定
 JESD24-3, 24-4, 24-6 as appropriate

・ワイヤボンド強度
 MIL-STD-750 Method 2037

・ワイヤボンドシェア強度
 AEC-Q101-003

・ダイシェア強度
 MIL-STD-750 Method 2017

・プロセス変更時に実施
 AEC-Q101-004 Section2

・プロセス変更時に実施
 AEC-Q101-004 Section3

・短絡回路評価
 AEC-Q101-006

・鉛フリー評価
 AEC-Q005

対象材料・部品・装置

  • 電子・電気機器
  • 自動車・輸送機器

試験方法

電気的な特性を調べる

対応工業規格

  • AEC-Q005
  • AEC-Q101-001
  • AEC-Q101-003
  • AEC-Q101-004 Section2
  • AEC-Q101-004 Section3
  • AEC-Q101-004 Section4
  • AEC-Q101-005
  • AEC-Q101-006
  • J-STD-002
  • J-STD-035
  • JESD22-A101
  • JESD22-A102
  • JESD22-A104 Appendix 6
  • JESD22-A105
  • JESD22-A108
  • JESD22-A109
  • JESD22-A110
  • JESD22-A111(SMD)
  • JESD22-A113
  • JESD22-A118
  • JESD22-B100
  • JESD22-B101
  • JESD22-B102
  • JESD22-B103
  • JESD22-B104
  • JESD22-B106(PTH)
  • JESD22-B107
  • JESD24-3
  • 24-4
  • 24-6 as appropriate
  • MIL-STD-750 Method 1037
  • MIL-STD-750 Method 2006
  • MIL-STD-750 Method 2017
  • MIL-STD-750 Method 2036
  • MIL-STD-750 Method 2037
  • MIL-STD-750-1 M1038 ConditionB
  • MIL-STD-750-1 M1038 MethodA
  • MIL-STD-750-1 M1040 TestConditionA

試験所所在地

  • 埼玉県本庄市
参加ポータル
試験・分析.com