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対応試験の紹介

落下試験

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落下試験

■落下衝撃試験(梱包落下)
耐落下性の評価を行うために、誤った取扱中に受けやすい供試品の落下を再現することを意図した簡易試験で、供試品に及ぼす影響を評価すること、又は最低強度を実証することを目的とする試験です。主として包装していない供試品及び輸送用ケースが供試品事態の一部と考えられる製品に対して行います。角やエッジ部からの落下衝撃も正確に再現性のある試験を行うことができます。梱包品(包装品)の落下試験(JIS Z 0202)についても対応しております。
■鋼球落下試験・自然落下衝撃試験
使用中又は修理作業中に粗雑な取扱いで発生するような打撃、急激な動揺および落下によって機器およびその附属品ユニットが受ける影響を再現する試験です。自由落下試験では、落下姿勢を一定に保つ事が困難で衝撃の再現性がなく評価が安定しないとの考え方もあり、開発されたのが同程度の衝撃歪を与える鋼球落下による評価試験方法です。携帯端末に使用されるBGA・CSPの表面実装部品繰り返し落下試験(JEITA ET 7409) についても対応しております。

対応工業規格

  • JIS Z 0202
  • JEITA ET 7409

試験所所在地

  • 埼玉県本庄市
  • 東京都東久留米市
  • 東京都練馬区