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高分解能で材料・電子部品の構造や欠陥を解析[東研X線検査]

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メールマガジン  / 2012年02月07日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

No.1378 2012年2月7日

● 高分解能のX線検査はお任せください。高密度材料の構造を解析。

「X線CTを使い、多方向からの断面や立体構造を確認したい」といったご要
望にお応えするX線検査の受託サービスを行っているのが東研X線検査株式会
社様です。特に関心の高い、ナノフォーカスX線CT装置を使った検査をご紹
介しましょう。


   ※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※

     樹脂やカーボンなど、工業用材料の3次元分析に最適
       「ナノフォーカスX線CT検査サービス」

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■ 工業材料、生物試料などの微細構造観察に最適
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ナノフォーカスX線CT検査の特筆すべき点は、樹脂やカーボンといった軽い
材料の断面や3次元構造を高分解能・高コントラストの画像で観察できるこ
とです。低電圧で高輝度な撮像が可能です。

樹脂材料内粒子の分散状態や、強化プラスチック内繊維の配向などの観察に
最適なほか、複合材料の空隙検査にも適しています。工業材料以外にも、生
物試料(骨格や内臓組織)の微細構造観察にも対応。ナノフォーカスX線CT
で観察した様子は下記の動画からご覧いただけます。


■ 欠陥検査に有効なX線透過検査
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同社は直径400ミリの大型ステージ搭載の透過型X線検査装置を保有し、半導
体や電子部品の非破壊検査、大型基板実装部品の不良確認にも対応していま
す。実装基板や製品をカットせずに撮像が可能。欠陥検査に有効です。

そのほかにも、断面観察や立体的な構造観察にも対応。最大60度の傾斜をつ
けた透過撮像や試料の大きさ、検査の目的に合わせた試験など、あらゆるご
要望にお応えします。


材料の微細な構造解析から大型基板の不具合検査まで、幅広いニーズにお応
えする同社。高輝度・微小焦点のX線検査についてお気軽にお問い合わせく
ださい。

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