株式会社キャッツ電子設計

・EVALUATION series
半導体動特性評価用テストシステム
マニュアルテストステーション
半導体テストシステム
・CAT series
半導体テストシステム
・CCT series
半導体テストシステム
・TLVS series
3ステーション同時測定半導体テストシステム　
・WAFER series
半導体テストシステム
・DV series
過渡熱抵抗測定器
半導体安全動作領域テストシステム
大電流熱抵抗テストシステム
プログラムエキスパンダー
レーザーダイオード過渡熱抵抗測定器
高分解能サイリスタ過渡熱抵抗測定器
IC過渡熱抵抗測定器
GaAsパワーデバイス解析装置
・LV series
半導体L負荷試験器
半導体L負荷試験器+マルチプレキシングユニット付
・WF series
半導体波形テストシステム
・REG series
レギュレータICテストシステム
電圧レギュレータテストシステム
4端子レギュレータテストシステム
・DYNAMIC series
半導体スイッチングタイムテストシステム
半導体逆回復時間測定器
di/dtテストシステム
Ciss/Coss/Crssテスター
・OTHER TESTERS
リニアICテストシステム
高分解能半導体接合部残留時間測定器
ハードブレイクダウンテスター
1/2 CV2試験器
耐圧試験器
短絡試験器
PHOTO-MOSリレーテスター
DIP RELAYテスター
・POWER MODULE series (CUSTOM-MADE)
インテリジェントパワーモジュールテストシステム
IPMアクティブロードテストシステム
IGBTパワーモジュールテストシステム
IGBT波形検査テストシステム
大電流順方向電圧／飽和電圧試験器
モジュールチェッカー
ゲート容量特性測定器
・HANDLER series
SOT-23用ハンドラー
DIL-8PIN用ハンドラー
SOP-8用ハンドラー
小信号デバイスハンドラー
リード成型機