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イベント

【Live配信 or アーカイブ配信】表面分析の実践方法とデータ解析手法

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化学・エレクトロニクス:セミナー  / 2025年10月06日 /  化学・樹脂 セラミックス 電子・半導体
イベント名 表面分析の実践方法とデータ解析手法
開催期間 2025年12月04日(木) ~ 2025年12月15日(月)
【Live配信】2025年12月4日(木) 13:00~16:30
【アーカイブ(録画)配信】 2025年12月15日まで受付(視聴期間:12月15日~12月25日まで)
会場名 ZOOMを利用したオンライン配信 ※会場での講義は行いません
会場の住所 オンライン
お申し込み期限日 2025年12月12日(金)15時
お申し込み

<セミナー No.512401>

 

表面分析の実践方法とデータ解析手法

 

★各分析手法の特徴、試料の取り扱い、データの解釈、、、

 表面分析を適切に活用するための視点や判断のポイントを解説!

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■講師

アルバック・ファイ(株) 分析技術顧問 眞田 則明 氏

 

■聴講料

1名につき49,500円(消費税込・資料付き)

1社2名以上同時申込の場合1名につき44,000円(税込)

大学、公的機関、医療機関の方には割引制度があります。詳しくはお問い合わせください。

 

■セミナーの受講について
・下記リンクから視聴環境を確認の上、お申し込みください。
 → https://zoom.us/test
・開催数日前または配信開始日までに視聴用のURLとパスワードをメールにてご連絡申し上げます。
 セミナー開催日時またはアーカイブ配信開始日に、視聴サイトにログインしていただきご視聴ください。
・出席確認のため、視聴サイトへのログインの際にお名前、ご所属、メールアドレスをご入力ください。
 ご入力いただいた情報は他の受講者には表示されません。
・開催前日または配信開始日までに、製本したセミナー資料をお申込み時にお知らせいただいた住所へお送りいたします。
 お申込みが直前の場合には、開催日または配信開始日までに資料の到着が間に合わないことがあります。
・本講座で使用される資料や配信動画は著作物であり、録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止いたします。
・本講座はお申し込みいただいた方のみ受講いただけます。
 複数端末から同時に視聴することや複数人での視聴は禁止いたします。
・アーカイブ配信セミナーの視聴期間は延長しませんので、視聴期間内にご視聴ください。

プログラムあああああああああああああああああああああああああああああああああああああ

【この講座で学べること】

・表面分析(XPS、AES、TOF-SIMS)の原理と基礎知識

・表面分析(XPS、AES、TOF-SIMS)の特徴と使い分け

・表面分析(XPS、AES、TOF-SIMS)の使い方

・表面分析結果解釈の実例

 

【講座概要】

表面・界面は、あらゆる固体材料・デバイスにおいて、機械的接合、電気的接合、変色、防食など多様な機能に関与しています。特にXPS、AES、TOF-SIMSといった代表的な表面分析は、固体表面の数nm(数十原子層、分子層)の組成や状態を明らかにし、固体最表面および界面を詳しく調べることができます。ただし、試料の取り扱いやデータの解釈には細心の注意が必要です。

本講座では実践的な表面分析のノウハウを述べるとともに、現代の重要材料の分析事例を通して、表面分析を適切に活用するための視点や判断の要点を明らかにします。

 

1.固体表面分析(XPS,AES,TOF-SIMS)の基礎

 1.1 表面数原子・数分子層の重要性

 1.2 なぜ極表面の分析や極薄膜の分析が可能になるのか?

 1.3 表面分析法の比較

 1.4他の分析手法と比較した特徴

 

2.表面分析をはじめる前に

 2.1 試料の観察

 2.2 表面分析のための試料の取り扱い

 2.3 分析時の表面汚染を避けるテクニック

 

3.XPS分析

 3.1 XPS分析の原理

 3.2 XPS分析の特徴

 3.3 ワイドスペクトル、元素の同定

 3.4 ナロースペクトル、定量

 3.5 化学状態分析

 3.6 深さ方向分析

 3.7 XPSの分析事例

 

4.AES分析

 4.1 AES分析の原理

 4.2 AES分析の特徴

 4.3 チャージアップへの対応

 4.4 スペクトル測定、元素の同定

 4.5 マップ測定

 4.6 深さ方向分析

 4.7 AESの分析事例

 

5.TOF-SIMS分析

 5.1 TOF-SIMS分析の原理

 5.2 TOF-SIMS分析の特徴

 5.3 チャージアップへの対応

 5.4 スペクトル測定、イオンの同定

 5.5 マップ測定、異物の観察

 5.6 TOF-SIMSの分析例

 

6.表面分析の組み合わせとデータ処理

 6.1 多変量解析(TFA)によるデータマッサージ

 6.2 多変量解析(MCR)による未知成分抽出

 6.3 電子材料の分析例

 6.4 有機高分子材料の分析例

 

セミナーの詳細についてはお気軽にお問い合わせください。

 

2名以上同時にお申込される場合、2人目以降の方の情報は【弊社への連絡事項がございましたら、こちらにお書きください】欄にご入力をお願いいたします。