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太陽電池関連の長期信頼性保証方法、PID発生原因と対策などを解説[ケミトックス]

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メールマガジン  / 2012年09月10日 /  エネルギー 電子・半導体 試験・分析・測定

No.1490 2012年9月10日

● 太陽電池業界で最大の関心事「PID発生原因と対策」セミナー開催

太陽電池の業界では、その長期信頼性をいかに保証するか、メーカーのいう
保証期間20年~30年という数字をどのようにして実証するかは、最近の懸念
事項であり、大きな課題です。加えて、PIDの発生原因と対策についてもお
問い合わせが多く、業界の一大関心事です。
そこで、このたび株式会社ケミトックス様がモジュールメーカーの方、関係
材料メーカーの方々を対象に、タイムリーなセミナーを開催します。

また、同社では今後の成長が大いに期待される「プリンテッドエレクトロニ
クス」関連事業も開始しました。


  ※※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※※

     太陽電池セルやモジュールの長期信頼性の保証方法
          PID発生原因と対策とは?

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■ 太陽電池業界注目のセミナーを開催
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セミナーでは、太陽電池セルやモジュールの長期信頼性と加速試験を中心に
(財)産業技術総合研究所の主任研究員にお話いただくほか、PID現象の発生
メカニズム、PID測定・評価方法やフィールド試験、実証実験、PID対策と
いった関心の高い話題を取り上げます。

セミナーの詳細およびお申込はこちらのページをご覧ください。


■ 「NOCT試験」では、3~10日間でデータを取得
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モジュールから材料まで、太陽電池関連の信頼性評価・試験がトータルに
行える態勢を整えている同社。国際的に受け入れられる信頼性のあるデータ
を提供しています。

例えば、IEC 61215、IEC 61646で規定されている太陽電池モジュールのセル
温度を測定する「NOCT試験」。通常はデータ取得に長期間要しますが、同社
の設備なら、3~10日間という短期間にデータを取得できます。

各種試験の詳細は、資料からご確認いただけます。


■ プリンテッド エレクトロニクスによるサンプル作製も
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今後、エレクトロニクス産業に大きな変革をもたらすと期待されている
「プリンテッド エレクトロニクス」。その材料評価や試作品の作製に必要
不可欠とされるのが高性能プリンターです。

同社では、高性能インクジェットプリンターによるサンプル作製、ベース材
料やインク材料の評価、(電気的、機械的、環境特性などの)信頼性評価を
開始しています。少量での材料評価やサンプル作製にも対応します。


太陽電池モジュールに要求される試験のほか、UL CAPによる試験サービス、
REACH登録・コンサルティング、プリンテッド エレクトロニクス関連事業等
幅広い分野で国際的に受け入れられる信頼性のあるデータを提供しています。
詳細について、お気軽にご相談ください。

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