業界最速50m秒/ch、数mΩの低い抵抗値も計測できる[導通信頼性評価テスター]［J－RAS］

No.1745　2014年4月24日

● お客様の声から生まれた「導通信頼性評価テスター」

「使っているテスターは計測スピードが遅く、設定したタイミングで全チャ
ンネルのデータを計測できない」「低い抵抗値データの誤差が大きい」「よ
く故障する」といったお悩みはありませんか？

J－RAS株式会社様がこれらのお悩みの声を基に新開発した、より速くより正
確に計測できる「導通信頼性評価テスター」をご紹介します。


■□―――――――― 【 ここにフォーカス 】 ――――――――――□■

計測スピード業界最速50m秒/ch、数mΩの抵抗値データも正確に計測
故障が少ない「導通信頼性評価テスター」

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■　基板上の銅の配線や、はんだ付けした個所の導通状態をチェック
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製品を作るうえで、重要な信頼性評価試験の1つとして行われている導通信
頼性評価。基板上の銅の配線やはんだ付けした個所が、導通した状態を正常
に維持できているか、抵抗値を計測して確認します。

既存のテスターの問題点を改善し、新たに開発されたのが同社の「導通信頼
性評価テスター」です。最速の計測スピードに加え、数mΩと低い抵抗値デ
ータもノイズを少なくし、安定した計測が可能です。
小型で扱いやすいため、移動も容易です。機械式リレーなどの機械的機構が
無いので、故障も少なく評価試験を専門とする部署でも活用いただけます。


■　絶縁抵抗劣化の評価に利用できる装置も多数
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同社では、この他にもお客様の声に応えた評価装置を開発しています。
計測精度、使い勝手、システム安定性など、現在使用している装置について
お悩みごとがありましたら、ぜひ一度ご相談ください。